光譜測(cè)試儀
【深圳華普通用科技有限公司(直讀光譜儀：www.hpge。。ｃｏｍ.cn/zhiduguangpuyi) :,咨詢:】.公司業(yè)務(wù)分為電子測(cè)試儀器部，化學(xué)分析儀器部，材料分析儀器部，電磁兼容測(cè)試儀器部以及芯片燒錄設(shè)備部。華普通用與美國(guó)安捷倫(Agilent)、美國(guó)力科(LECORY) 、美國(guó)吉時(shí)利(KEITHLEY) 、美國(guó)泰克(Tektronix) 、美國(guó)科學(xué)儀器公司STI、美國(guó)SerialTek、德國(guó)斯派克(SPECTRO) 、瑞士特測(cè)(TESEQ) 、中國(guó)臺(tái)灣崇貿(mào)(System General) 、以色列HERMON Labs、西班牙ALBEDO ecom SL、日本TAKAYA、澳大利亞CLUSO等數(shù)十家*儀器制造商在中國(guó)區(qū)有著廣泛的合作。光譜測(cè)試儀

主要特點(diǎn)：

1、HEPS數(shù)字化固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料 ；
2、固態(tài)吸附阱，防止油氣對(duì)光室的污染，提高*運(yùn)行穩(wěn)定性；
3、銅火花臺(tái)底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能；
4、合理的氬氣氣路設(shè)計(jì)，使樣品激發(fā)時(shí)氬氣沖洗時(shí)間縮短，為用戶節(jié)省氬氣，氬氣消耗不到普通光譜儀的一半；
5、采用鎢材料電極，電極使用壽命更長(zhǎng)，并設(shè)計(jì)了電極自吹掃功能，清潔電極更加容易；
6、高性能DSP及ARM處理器，具有超高速數(shù)據(jù)采集及控制功能并自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)光室溫度、真空度、氬氣壓力、光源系統(tǒng)及控制系統(tǒng)等模塊的運(yùn)行狀況；

技術(shù)優(yōu)勢(shì)：
1、*的第二代CCD全譜光譜制造技術(shù)（數(shù)字化技術(shù)替代老式體積龐大笨重的光電倍增電子管模擬技術(shù)）、通道可不受限制 ；
2、引進(jìn)歐洲技術(shù)、同光譜儀技術(shù)同步，國(guó)內(nèi).家能生產(chǎn)真空CCD全譜技術(shù)光譜儀的制造商；
3、采用真空型恒溫光室，穩(wěn)定、可靠、免維護(hù)；不再采用小型雙光室設(shè)計(jì)解決長(zhǎng)短波元素的技術(shù)問題；
4、基體范圍內(nèi)通道改變、增加不需費(fèi)用；
5、升級(jí)多基體方便，無須變動(dòng)增加硬件 ；
6、優(yōu)良的數(shù)據(jù)穩(wěn)定性，同一樣品不同的時(shí)間段分析，可獲得良好的數(shù)據(jù)*性 ；

的操作過程中的注意事項(xiàng)

1． 試料激發(fā)和計(jì)算機(jī)操作

a．為了安全起見，計(jì)算機(jī)的操作和激發(fā)試樣，必須由一個(gè)人操作到底。

b．試樣放好后，才能使用計(jì)算機(jī)的操作指令，激發(fā)試樣。

c．在激發(fā)崗位操作時(shí)要注意三點(diǎn)。

*點(diǎn)要聽聲音，試料放置不好，有漏氣時(shí)，激發(fā)聲音則不正常。

第二點(diǎn)檢查激發(fā)放電斑點(diǎn)，凝聚放電是好的，擴(kuò)散放電(白點(diǎn))是不好的。

第三點(diǎn)要檢查激發(fā)點(diǎn)的位置上是否有微小裂紋，氣孔和砂眼，激發(fā)點(diǎn)有無重疊等，提供給數(shù)據(jù)處理工作時(shí)做重要的參考。

d．每個(gè)試樣，必須激發(fā)二次以上。

e．計(jì)算機(jī)操作時(shí)，應(yīng)記下爐號(hào)，次數(shù)和鋼種，并要記錄操作者的姓名。