二手X射線熒光光譜儀ROHS

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儀器實(shí)拍：

二手X射線熒光光譜儀ROHS

X射線熒光光譜儀具有重現(xiàn)性好，測(cè)量速度快，靈敏度高的特點(diǎn)。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對(duì)象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業(yè)樣品。無(wú)標(biāo)半定量方法可以對(duì)各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結(jié)果，結(jié)果準(zhǔn)確度對(duì)某些樣品可以接近定量水平，分析時(shí)間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測(cè)量樣品的zui大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。

儀器類別

0303040903 /儀器儀表 /成分分析儀器 /熒光光度計(jì)

指標(biāo)信息

1.發(fā)射源是Rh靶X光管，zui大電流125mA，電壓60kV，zui大功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度<13pascals 3.5塊分析晶體，可以分析元素周期表F～U之間所有元素，含量范圍是ppm～* 4.分析軟件是Philips公司（現(xiàn)為PANalytical）版軟件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在計(jì)算率N=1483870時(shí)，RSD=0.08% 穩(wěn)定性計(jì)算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對(duì)誤差為0.03%

附件信息

循環(huán)水致冷單元，計(jì)算機(jī) P10氣體瓶空氣壓縮機(jī)

分析對(duì)象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態(tài)樣品的無(wú)標(biāo)半定量分析，對(duì)于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結(jié)果接近于定量分析的準(zhǔn)確度。X熒光分析快速，某些樣品當(dāng)天就可以得到分析結(jié)果。適合課題研究和生產(chǎn)監(jiān)控。

X射線熒光光譜儀分為波長(zhǎng)色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。

波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據(jù)Bragg定律將不同能量的譜線分開(kāi)，然后進(jìn)行測(cè)量。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發(fā)源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時(shí)式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀三種類型。順序式通過(guò)掃描方法逐個(gè)測(cè)量元素，因此測(cè)量速度通常比同時(shí)式慢，適用于科研及多用途的工作。同時(shí)式則適用于相對(duì)固定組成，對(duì)測(cè)量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時(shí)式相結(jié)合的譜儀結(jié)合了兩者的優(yōu)點(diǎn)。

熒光光譜

能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開(kāi)并測(cè)量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺(tái)式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導(dǎo)體探測(cè)器，如Si(Li)和高純鍺探測(cè)器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計(jì)數(shù)器或閃爍計(jì)數(shù)器為探測(cè)器，它們不需要液氮冷卻。采用電致冷的半導(dǎo)體探測(cè)器，高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發(fā)X射線熒光光譜、質(zhì)子激發(fā)X射線熒光光譜、放射性同位素激發(fā)X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、微區(qū)X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。

非色散譜儀

非色散譜儀不是采用將不同能量的譜線分辨開(kāi)來(lái)，而是通過(guò)選擇激發(fā)、選擇濾波和選擇探測(cè)等方法使測(cè)量分析線而排除其他能量譜線的干擾，因此一般只適用于測(cè)量一些簡(jiǎn)單和組成基本固定的樣品。

全反射熒光

如果n1>n2，則介質(zhì)1相對(duì)于介質(zhì)2為光密介質(zhì)，介質(zhì)2相對(duì)于介質(zhì)1為光疏介質(zhì)。對(duì)于X射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質(zhì)。所以，如果介質(zhì)1是空氣，那么α1>α2（圖2.20右圖），即折射線會(huì)偏向界面。如果α1足夠小，并使α2=0，此時(shí)的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當(dāng)α1<α臨界時(shí)，界面就象鏡子一樣將入射線全部反射回介質(zhì)1中，這就是全反射現(xiàn)象。

X射線熒光光譜法有如下特點(diǎn)：

分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測(cè)定；

熒光X射線譜線簡(jiǎn)單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡(jiǎn)便；

分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測(cè)限可達(dá)ppm量級(jí)，輕元素稍差；

分析樣品不被破壞，分析快速，準(zhǔn)確，便于自動(dòng)化。

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

應(yīng)對(duì)歐盟RoHS、ELV和中國(guó)《電子信息產(chǎn)品污染防治管理辦法》。臺(tái)式小型主機(jī)，配備全自動(dòng)開(kāi)關(guān)的大樣品室。適應(yīng)固體、液體、粉體、光盤(pán)、薄膜等各種類型的樣品。擴(kuò)展性*，16/8樣品交換、真空/He氣氛、4種準(zhǔn)直儀、使用CCD攝像頭觀察樣品等，900型的檢測(cè)器為電子制冷。

詳細(xì)介紹

固體•粉末•液體樣品都不需要前處理的非破壞性的簡(jiǎn)便分析。適用快速評(píng)價(jià)RoHS、 ELV法規(guī)限制的有害元素的新裝置！靈敏度比以往機(jī)型提高2倍，使用更方便，提高了篩選分析的效率！ 

1。配置新型濾光片，提高Pb、Cd等的靈敏度提高2倍。 
2。配置高計(jì)數(shù)率電路，增加檢測(cè)器的計(jì)數(shù)量。 
3。增加時(shí)間縮短功能，由熒光X射線強(qiáng)度算出測(cè)定精度，自動(dòng)判斷所需zui少測(cè)定時(shí)間。 
4。增加自動(dòng)工作曲線選擇功能，依據(jù)識(shí)別樣品種類的不同而選擇zui適宜的工作曲線。

技術(shù)參數(shù)

分析元素：11Na~92U(EDX-720/900HS)6C~92U(EDX-800HS) 
2.樣品型狀：zui大300mmФ×150mmH 
3.X射線濾鏡：5種自動(dòng)交換 
4.軟件： 
定性分析－測(cè)定/解析軟件。 
定量分析－工作曲線法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法
1.分析元素：11Na~92U(EDX-720/900HS)，2.樣品型狀：zui大300mmФ×150mmH
3.X射線濾鏡：5種自動(dòng)交換
4.軟件： 定性分析－測(cè)定/解析軟件
定量分析－工作曲線法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法主要特點(diǎn)：
固體、粉末、液體樣品都不需要前處理的非破壞性的簡(jiǎn)便分析。適用快速評(píng)價(jià)RoHS、 ELV法規(guī)限制以及電子信息產(chǎn)品污染防治管理辦法中有害元素的新裝置！靈敏度比以往機(jī)型提高2倍，使用更方便，提高了篩選分析的效率！迅速測(cè)定ppm級(jí)的有害金屬！

應(yīng)對(duì)WEEE & RoHS、ELV等有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)。
應(yīng)對(duì)ASTM F963,EU_EN71美國(guó)和歐盟的玩具法規(guī)和指令，保證產(chǎn)品和用料的綠色環(huán)保。

Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對(duì)產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置。可無(wú)損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤(pán)、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。特別是zui近，以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報(bào)廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購(gòu)及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，的EDX系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。

測(cè)定原理     X射線熒光分析法

測(cè)定方法      能量色散型

測(cè)定對(duì)象      固體、液體、粉狀

測(cè)定范圍      13Ai~92U

樣品室尺寸     zui大W370*D320*H155mm

迅速測(cè)定ppm級(jí)的有害金屬！
應(yīng)對(duì)WEEE & RoHS、ELV等有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)。
應(yīng)對(duì)ASTM F963,EU_EN71美國(guó)和歐盟的玩具法規(guī)和指令，保證產(chǎn)品和用料的綠色環(huán)保。

Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對(duì)產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進(jìn)行檢測(cè)，測(cè)定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置。可無(wú)損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤(pán)、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個(gè)領(lǐng)域。特別是zui近，以歐盟的報(bào)廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報(bào)廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購(gòu)及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，的EDX系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。

SHIMADZU EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray - Test Equipment Sales and Instrument Rental (Used,Refurbished,New)

SHIMADZU EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray

Micro Precision Test Equipment Inc. provides sales, rental and calibration service for SHIMADZU instruments including, EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray. Select from options for the EDX-700HS test equipment (Used,Refurbished, New). We can deliver it at your location or you can order from one of our many regional offices. Call 530-268-1860 for current pricing and availability.

 X射線熒光的產(chǎn)生原理

X射線管發(fā)出X射線照射樣品，樣品中所含的原子則向外發(fā)射原子*的X射線。這種X射線被稱為熒光X射線，各元素具有特定的波長(zhǎng)（能量）。因此，通過(guò)檢測(cè)X射線的波長(zhǎng)就能夠進(jìn)行定性分析。另外，熒光X射線的強(qiáng)度與濃度具有函數(shù)關(guān)系，檢測(cè)每個(gè)元素X射線特征波長(zhǎng)的X射線量就能進(jìn)行定量分析。

 滿足所有領(lǐng)域不同的應(yīng)用

■ 電子·電氣 

·RoHS指令、無(wú)鹵素等篩選分析

·半導(dǎo)體、存儲(chǔ)裝置、液晶、太陽(yáng)能電池等各種薄膜分析

 ■ 汽車·機(jī)械 

· 應(yīng)對(duì)ELV指令的篩選分析

· 各種機(jī)械零部件結(jié)構(gòu)分析及鍍層厚度、化學(xué)合成外膜附著量的檢測(cè)

 ■ 鋼鐵·非金屬

· 原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析

· 爐渣的組成分析

 ■ 礦業(yè)

· 選礦工藝的成色鑒別分析

■ 窯業(yè)

· 陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析

 ■ 石油·石油化學(xué)

· 油中硫元素的分析

· 潤(rùn)滑油中各種添加元素及混入元素的分析

 ■ 化學(xué)工業(yè)

·無(wú)機(jī)·有機(jī)原料和產(chǎn)品分析

·催化劑、顏料、涂料、橡膠、塑膠的分析

 ■ 環(huán)境

· 土壤、排水、焚燒灰、過(guò)濾、PM2.5等成分分析

 ■ 醫(yī)藥

· 合成時(shí)的殘留催化劑分析

· 原藥中不純物分析、異物分析

 ■ 農(nóng)業(yè)·食品

· 土壤、肥料、植物的分析

· 食品的原料分析、添加元素管理、混入異物的分析

■ 其它

· 考古學(xué)樣品及寶石成分分析

玩具·日用品中有害重金屬元素測(cè)定等

一、島津EDX-700hs射線熒光光譜儀主機(jī)部分:

X射線發(fā)生器單元
X射線管
類型 Rh靶
冷卻方法 空冷（附風(fēng)扇）
2X射線電源單元
電壓 5-50kV，每步1Kv（測(cè)定重金屬(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)時(shí)，可以用50ｋV。但測(cè)定輕元素時(shí)，15kV是***有效的。另在工作曲線法中，隨時(shí)可設(shè)定***佳電壓。） 電流 1-1000μA，每步1μA
穩(wěn)定度 ±0.01%（外電壓波動(dòng)±10%）
保護(hù)電路 過(guò)電壓, 過(guò)電流, 過(guò)功率,
X射線連鎖保護(hù)
（特點(diǎn)說(shuō)明：電壓、電流可以由計(jì)算機(jī)控制自動(dòng)調(diào)節(jié)，滿足不同元素的高精度分析，同時(shí)滿足RoHS，ELV指令擴(kuò)展的要求）
3、一次X射線濾波片 5種自動(dòng)交換
（特點(diǎn)說(shuō)明：不同元素應(yīng)該采用不同的濾光片進(jìn)行分析，這樣才能有效降低背景，得到高準(zhǔn)確度的測(cè)量數(shù)據(jù)。EDX-720進(jìn)行元素分析時(shí)可以自動(dòng)判斷元素和更換相應(yīng)的濾光片，無(wú)須手動(dòng)更換）
二、島津EDX-700hs射線熒光光譜儀檢測(cè)器:
1、檢測(cè)器
類型 Si（Li）檢測(cè)器
液氮 只有在分析時(shí)添加
液氮消耗 少于1升/天
檢測(cè)面積 10mm2
分析元素 Na-U
分辨率 ：小于150電子伏特
（特點(diǎn)說(shuō)明：采用液氮制冷方式的檢測(cè)器具有高分辨率，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準(zhǔn)確度的分析。在性能、實(shí)績(jī)、穩(wěn)定性上，Si(Li)半導(dǎo)體是性的實(shí)績(jī)（島津檢測(cè)器是自己生產(chǎn)，在萬(wàn)一發(fā)生故障也迅速對(duì)應(yīng)）。 掘場(chǎng)按振動(dòng)檢測(cè)器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導(dǎo)體分辨率為220eV、在分析樹(shù)脂中的Cd、Pb時(shí)，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時(shí)不能檢出，還有因?yàn)槭堑蛷?qiáng)度，在測(cè)試金屬中有害元素的感度也差。）
2、計(jì)數(shù)單元
放大器
擬合時(shí)間 10μ秒
增益變化 高/低
多道分析器（MCA）
變頻型 順序比較ADC
道數(shù) 2048道
***大計(jì)數(shù)率 232-1/道
三、島津EDX-700 hs射線熒光光譜儀樣品室與測(cè)定室單元
1、樣品室
蓋子 自動(dòng)開(kāi)啟/關(guān)閉（帶安全系統(tǒng)）
每次測(cè)定時(shí)蓋子自動(dòng)上升與下降。
***大樣品尺寸 300mm 直徑 x 150mm高
（特點(diǎn)說(shuō)明：樣品室自動(dòng)開(kāi)啟，樣品蓋子的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)有效避免X光的泄露，滿足日本及中國(guó)X射線的泄露控制標(biāo)準(zhǔn)。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測(cè)試，無(wú)須切割）
2、測(cè)定室
X射線照射面積 下照射
光欄直徑 1、3、5、10mm可選
（特點(diǎn)說(shuō)明：不同的分析面積采用不同尺寸的光欄，可以保證各種大小樣品的高精度測(cè)試。）
測(cè)定室開(kāi)孔 13mm
3、測(cè)定氣氛：大氣
4、CCD觀察定位系統(tǒng)
配備CCD數(shù)碼觀察系統(tǒng)，可以準(zhǔn)確定位分析區(qū)域。