X射線衍射檢測(cè)儀X射線是種能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、
照相機(jī)感光成像。
X射線衍射儀,用于材料晶體結(jié)構(gòu)的表特征分析檢測(cè),晶格常數(shù)的精密化、結(jié)晶度的計(jì)算、晶體粒徑和晶格應(yīng)力的計(jì)算、進(jìn)行軟件解析晶體的結(jié)構(gòu)??赡苤苯臃治龀鰩r石的礦物組成及相對(duì)含量,
并形成了定性、定量的巖性識(shí)別方法.
還可以分析天然或是人工合成的無機(jī)或是有機(jī)材料。在材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、化工、聚合物、冶金、礦物、催化劑、鈦白粉、水泥、制藥、塑料,等眾多項(xiàng)目和行
業(yè)中都有廣泛應(yīng)用,是科技院校和材料研究、生產(chǎn)和科研機(jī)構(gòu)、廠礦等單位的分析設(shè)備。