ContourGT表面計量系列產(chǎn)品
用于生產(chǎn)和研發(fā)的非接觸式三維光學(xué)輪廓儀
- 業(yè)界垂直分辨率
- 的可靠性和測量重復(fù)性
- 的表面測量和分析速度
- 的使用性，操作簡便，分析功能強大
30年技術(shù)革新，實現(xiàn)非接觸式表面測量技術(shù)高峰
- 0.5倍至200倍的放大倍率，在極寬的測量范圍內(nèi)，對樣品表面形狀和紋理進行表征。
- 任何倍率下亞埃級至毫米級垂直測量量程提供了無以倫比的測量靈活性。
- 高分辨率攝像頭可選配件，提高了橫向分辨率和GR&R測量的重復(fù)性。
多核處理器下運行的Vision64™ 軟件，大大提高三維表面測量和分析速度
- 新的軟件設(shè)計使數(shù)據(jù)處理速度提高幾十倍。
- 多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度提高十倍。
- 無以倫比的無縫拼接能力，可以把成千上萬個數(shù)據(jù)拼接成一張連續(xù)的圖像
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測量硬件的設(shè)計增強生產(chǎn)環(huán)境中的可靠性和重復(fù)性
- 高亮度的雙LED照明技術(shù)提高測量質(zhì)量。
- 化的硬件設(shè)計提高了儀器對震動的容忍度和GR&R測量的能力。
- 的自動校準能力確保了儀器與儀器之間的相關(guān)性，測量準確度和重復(fù)性。
高度直觀的用戶界面，擁有業(yè)界的操作簡便和分析功能強大
- 優(yōu)化的用戶界面大大簡化測量和數(shù)據(jù)分析過程，從而提高儀器和操作者效率
- 的可視化操作工具為用戶提供易于學(xué)習(xí)和使用的數(shù)據(jù)分析選項
- 用戶可自行設(shè)置數(shù)據(jù)輸出的界面 三十年技術(shù)創(chuàng)新，迎來第十代全新產(chǎn)品
我們的干涉儀是一個包含了的垂直掃描干涉技術(shù)（VSI模式），掃描頭傾斜調(diào)整，的自動校準和雙LED照明等革新技術(shù)。
ContourGT系列既結(jié)合了這些已被證實的設(shè)計功能，又在硬件上進行了大量的改進，從而給用戶提供了目前精確的、重復(fù)性光學(xué)輪廓儀性能。 Bruker的光學(xué)輪廓儀具有已被證實的，將近三十年的*性能運行跟蹤記錄，從研究型實驗室到生產(chǎn)型工廠的上萬臺安裝記錄。震動隔離性能*
ContourGT-X光學(xué)輪廓儀配備有一體式的氣動平臺和雙層金屬鑄件，此兩種設(shè)計都是為了隔離震動以避免干擾測量效果，從而獲得快速、精確的、可通過GRR測試的測量結(jié)果。光學(xué)計量模塊(OMM)
OMM結(jié)合了Bruker的雙LED照明光源技術(shù)，在任何樣品任意放大倍數(shù)下均可提供的照明強度和均勻性。OMM還能在整個10mm測量量程內(nèi)提供無以倫比的準確性和可重復(fù)性。馬達驅(qū)動的多放大倍率檢測器可包含三個視場目鏡，以放大倍率的靈活性和穩(wěn)定性。自校準功能*
ContourGT系列可選擇型號中，具有包含Bruker技術(shù)的內(nèi)置一級標準自校準功能的能力，使得閉環(huán)掃描的性能。此模塊包含一個參考信號，在儀器啟動時對系統(tǒng)進行自校準，然后連續(xù)監(jiān)控并校正每次測量，以保證的精確度和重復(fù)性。傾斜調(diào)整支架*
Bruker的傾斜調(diào)整支架設(shè)計可使得OMM傾斜，而不是樣品傾斜。這樣，被測量的樣品將總處于聚焦位置，并且在測量的視野中，確保了操作的一致性和簡易性。
*這些選項僅在ContourGT-X3和/ContourGT X8型號上具有。自動樣品臺在ContourGT-X型號中具有全自動的8英寸或12英寸樣品臺。兩種樣品臺均配備有0.5um重復(fù)性的編碼器。ContourGT-K1型具有可選的6英寸馬達驅(qū)動樣品臺。還可選配具有Z方向聚焦旋鈕的XY操縱桿。塔臺
選配的馬達驅(qū)動塔臺可安裝最多4個干涉物鏡，從1倍至100倍。塔臺設(shè)計確保了當您切換物鏡時，您的測試點始終處于聚焦和中心位置。輔助操作燈泡*
在防震臺的后面配備有一個LED光源以幫助樣品聚焦和確保操作可觀度。
