詳細(xì)內(nèi)容
X射線波譜儀(WDS)INCA Wave X射線波譜儀有高分辨率,高靈敏度,高精度,高準(zhǔn)確度和操作簡便的特點(diǎn),是顯微分析大***族中的技術(shù)手段。采用高精度的彎曲晶體分光譜儀系統(tǒng),由4塊或6塊晶體覆蓋從B到U的全部元素分析,其探測(cè)限可達(dá)幾個(gè)PPM。 應(yīng)用: 波長色散顯微分析儀(WDS)能提供高質(zhì)量的關(guān)于掃描電鏡(SEM)中樣品化學(xué)成分的信息。其譜圖分辨率和檢測(cè)限顯著優(yōu)于能量色散顯微分析儀(EDS). WDS尤其適合特別需要分辨相鄰X射線譜峰或檢測(cè)痕量元素的場合。它同時(shí)提供了掃描電鏡(SEM)條件下***精確的定量分析結(jié)果。
INCA Wave X射線波譜儀有高分辨率,高靈敏度,高精度,高準(zhǔn)確度和操作簡便的特點(diǎn),是顯微分析大***族中的技術(shù)手段。采用高精度的彎曲晶體分光譜儀系統(tǒng),由4塊或6塊晶體覆蓋從B到U的全部元素分析,其探測(cè)限可達(dá)幾個(gè)PPM。 應(yīng)用: 波長色散顯微分析儀(WDS)能提供高質(zhì)量的關(guān)于掃描電鏡(SEM)中樣品化學(xué)成分的信息。其譜圖分辨率和檢測(cè)限顯著優(yōu)于能量色散顯微分析儀(EDS). WDS尤其適合特別需要分辨相鄰X射線譜峰或檢測(cè)痕量元素的場合。它同時(shí)提供了掃描電鏡(SEM)條件下***精確的定量分析結(jié)果。
INCA Wave X射線波譜儀有高分辨率,高靈敏度,高精度,高準(zhǔn)確度和操作簡便的特點(diǎn),是顯微分析大***族中的技術(shù)手段。采用高精度的彎曲晶體分光譜儀系統(tǒng),由4塊或6塊晶體覆蓋從B到U的全部元素分析,其探測(cè)限可達(dá)幾個(gè)PPM。 應(yīng)用: 波長色散顯微分析儀(WDS)能提供高質(zhì)量的關(guān)于掃描電鏡(SEM)中樣品化學(xué)成分的信息。其譜圖分辨率和檢測(cè)限顯著優(yōu)于能量色散顯微分析儀(EDS). WDS尤其適合特別需要分辨相鄰X射線譜峰或檢測(cè)痕量元素的場合。它同時(shí)提供了掃描電鏡(SEM)條件下***精確的定量分析結(jié)果。