FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM™）和兩個DualBeam™系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個樣品和工業(yè)過程控制實(shí)驗(yàn)室，材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的成像要求。Quanta系列的掃描電子顯微鏡，是一款多功能，高性能儀器與任何SEM系統(tǒng)的樣本，以適應(yīng)范圍的三種模式（高真空，低真空和ESEM）。如能譜儀，波長色散X射線光譜儀和電子背散射衍射分析系統(tǒng)，可配備所有的廣泛電腦掃描電鏡系統(tǒng)。
FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡可用于研究各種材料并表征材料的結(jié)構(gòu)與成分，同時提供的靈活性，提高了性能與通用性，可應(yīng)對當(dāng)今廣泛研究領(lǐng)域的各種挑戰(zhàn)，滿足多方需要。觀察樣品，獲取所有相關(guān)數(shù)據(jù)：將顯微鏡附件與表面形貌和成分圖像結(jié)合使用，確定材料特性及其化學(xué)元素組成。
導(dǎo)航功能包括自動 Montage 導(dǎo)航、樣品臺移動雙擊控制、拖放變焦和其他有用的標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合功能。SmartSCAN™ 技術(shù)采用智能掃描策略，可減少噪聲，提供質(zhì)的數(shù)據(jù)。其他新功能包括可提高低加速電壓 (kV) 性能的射束減速功能、Nav-Cam™ 彩色圖像導(dǎo)航和使 Quanta FEG 系列具備更大靈活性的新型伸縮式檢測器等。
采用環(huán)境掃描顯微 (ESEM) 技術(shù)，打造wei一的高分辨率 FEG-SEM 產(chǎn)品
可表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品，且在各操作模式下均可能實(shí)現(xiàn)二次電子 (SE) 和背散射電子(BSE) 成像
限度減少樣品制備量；低真空和環(huán)境掃描 (ESEM) 功能可實(shí)現(xiàn)無電荷成像，并能實(shí)現(xiàn)對絕緣樣品和含水樣品的分析
在 Quanta 的“經(jīng)由透鏡抽氣”zhuan利技術(shù)產(chǎn)生的高真空和低真空環(huán)境中對導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品進(jìn)行能譜 (EDS) 和電子背散射 (EBSD) 分析，以提高分析能力。穩(wěn)定的高射束電流（達(dá)到 200 nA）可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的分析
在原位樣品臺上可對各種保持自然狀態(tài)的樣品進(jìn)行動態(tài)原位分析，分析溫度高于或低于環(huán)境溫度，變化區(qū)間從 165 °C 到1500 
使用可選的射束減速模式能進(jìn)行表面成像，以從導(dǎo)電樣品中獲取表面和成分信息
易用，直觀的軟件讓新手也能高效操作