日本photonic-lattice光子晶體圖像傳感器PA/WPA紅外系列
日本photonic-lattice光子晶體圖像傳感器PA/WPA紅外系列
這是一個可以用相機高速測量雙折射和相位差的系統(tǒng)，該相機利用結合了我們的光子晶體和我們自己的軟件的圖像傳感器。
PA/WPA系列
該設備可以評估透明部件的變形和薄膜的延遲不均勻性。從顯微鏡尺寸到大尺寸（約 50 cm），我們備有與測量對象相對應的產(chǎn)品系列。
PA系列是測量范圍為0～130nm的低相位差裝置，以500萬像素的高分辨率高速測量雙折射/相位差的分布。
適用于測量相位差小的物體，如玻璃制品、鏡片等。
WPA 系列是通過測量三個波長的雙折射/相位差分布，將相位差測量范圍從 0 擴展到 3500 nm 的系列。
適用于相位差較大的透明樹脂制品的測量
PA/WPA-近紅外系列
測量波長為 850 nm 的 PA/WPA 系列。我們?yōu)椴煌干淇梢姽獾臉渲土驅倩锊ＡВㄈ四樧R別、LiDAR 系統(tǒng)等）的質量控制和工藝開發(fā)提供強大的工具。
配合鏡頭分析功能，在用戶設定的條件下進行測量，自動判斷合格/不合格。將測量時間減少到幾乎為零秒。實現(xiàn)快速檢測。通過改變測量波長，實現(xiàn)了超過標準WPA相位差測量范圍的高相位差測量。一種專注于色散的新算法。這樣可以實現(xiàn)高度可重復的測量，幾乎不會發(fā)生在測量厚的和復雜形狀的樹脂成型產(chǎn)品時容易發(fā)生的數(shù)據(jù)突然變化。
