干簧管AT測(cè)試儀 型號(hào):DP-AT-1
一、概述
DP-AT-1 干簧管測(cè)試儀是用單片微機(jī)開(kāi)發(fā)的用于測(cè)試干簧管的吸合和釋放AT值(或吸合和釋放電流)、吸合和釋放AT值差(或電流差)和觸點(diǎn)的接觸電阻的智能測(cè)試儀器。各參數(shù)通過(guò)面板上的按鍵設(shè)定,掉電時(shí),設(shè)定的參數(shù)不會(huì)丟失。當(dāng)設(shè)定線圈的匝數(shù)為零時(shí),則測(cè)試干簧管的吸合電流、釋放電流值和電流差值。
2、電源供電:?jiǎn)蜗?20VAC;功耗:功耗50W
環(huán)境溫度:室溫
應(yīng)在無(wú)塵、無(wú)污染、無(wú)震動(dòng)和不潮濕的環(huán)境下使用。
3、外型尺寸:250*200*100mm。
二、主要技術(shù)指標(biāo)
1. 適合測(cè)量1A、1B、1C類(lèi)型的干簧管。
2. 線圈電壓:0-12V。(如6V、7V 11V、12V)。
3. 線圈驅(qū)動(dòng)電流: 20mA。
4. 線圈匝數(shù)設(shè)定:0-9000(例如:1000匝、2000匝、3000匝 9000匝)
注:顯示屏顯示匝數(shù)為1k、2k、3k 9k。
5. 安匝數(shù)(AT值)測(cè)量范圍(線圈匝數(shù)以5000匝為基準(zhǔn))。
6. 吸合釋放電流測(cè)試范圍:0-20mA。
7. 接觸電阻測(cè)試條件6V/100mA,測(cè)量范圍0-256mΩ。
三、操作說(shuō)明
1、按鍵說(shuō)明
如上圖為該儀器的按鍵設(shè)置模塊,從圖中我們可以看出,該模塊的按鍵有12個(gè),
分別是:“[上頁(yè)]”、“[加]”、“[減]”、“[下頁(yè)]”、“[上移]”、“[下移]”、“[左移]”、“[右移]”、“[設(shè)置]”、“[功能]”、“[復(fù)位]”和“[測(cè)試]”。
n 參數(shù)設(shè)置畫(huà)面說(shuō)明:
按“[設(shè)置]”按鍵即可進(jìn)入如圖一所示的畫(huà)面,此畫(huà)面中除觸點(diǎn)電流100ma為固定值外,所有參數(shù)均可更改保存,當(dāng)要改變以上的參數(shù)時(shí),通過(guò)“[上移]”、“[下移]”、“[左移]”、“[右移]”按鍵,將光標(biāo)移動(dòng)到要更改的參數(shù),然后通過(guò)“[加]”、“[減]”鍵更改光標(biāo)位的參數(shù)。
備注:按“[設(shè)置]”鍵,進(jìn)入設(shè)置參數(shù)界面之后,可在任意界面按“[設(shè)置]”后保存所改變的參數(shù)值。
另,以上畫(huà)面可設(shè)置的參數(shù)為:
1、額定電壓:0-12V。
2、線圈匝數(shù):0-9000匝(0k-9k)。
3、觸點(diǎn)類(lèi)型:觸點(diǎn)點(diǎn)類(lèi)型可設(shè)置為1A(只有一個(gè)常開(kāi)觸點(diǎn))、1B(只有一個(gè)常閉觸點(diǎn))、
1C(常開(kāi)和常閉觸點(diǎn)各一個(gè))客戶(hù)可根據(jù)自己的產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的設(shè)定。
(備注:當(dāng)光標(biāo)在觸點(diǎn)類(lèi)型顯示時(shí),右下角會(huì)提示“下頁(yè)”字樣。)
當(dāng)客戶(hù)按下“[下頁(yè)]”按鍵時(shí),顯示的畫(huà)面為圖二所示。
同樣,用戶(hù)可通過(guò)“[上移]”、“[下移]”、“[左移]”、“[右移]”按鍵,移動(dòng)到需要更改的數(shù)字位置(該位置數(shù)字會(huì)閃爍),然后通過(guò)“[加]”、“[減]”鍵更改閃爍數(shù)值的大小。
另,此畫(huà)面設(shè)置的參數(shù)為:
1、吸合AT:上(即是上限),下(即是下限)
2、釋放AT:上(即是上限),下(即是下限)
3、AT差值:上(即是上限),下(即是下限)
進(jìn)入“1.設(shè)置上下限”界面時(shí),相應(yīng)的設(shè)置數(shù)字會(huì)閃爍,客戶(hù)可通過(guò)按鍵對(duì)“[上移]”、“[下移]”、“[左移]”、“[右移]”來(lái)移動(dòng)閃爍的位置,然后通過(guò)加減按鍵對(duì)該位置上的數(shù)字進(jìn)行“[加]”、“[減]”,長(zhǎng)按按鍵可連續(xù)加減數(shù)字和連續(xù)移動(dòng)閃爍位置。
當(dāng)再次按下“[下頁(yè)]”時(shí),進(jìn)入接觸電阻上下限設(shè)置界面(圖四)。具體操作同上,這里不在贅述。
n 按鍵測(cè)試說(shuō)明
當(dāng)用戶(hù)設(shè)置參數(shù)完畢時(shí),再次按“[設(shè)置]”按鍵,即可保存設(shè)置的數(shù)據(jù)。然后回到測(cè)試界面(圖五)。
回到測(cè)試界面時(shí),有兩種測(cè)試方法:
1、直接按下“[測(cè)試]”按鍵。
2、按下外部測(cè)試座子的紅色按鈕。
備注:測(cè)試座子為本公司標(biāo)配的座子,線圈匝數(shù)為5000匝
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