產(chǎn)品詳細資料:
CH-1-ST型薄膜測厚儀:
本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片)。
本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)參數(shù):◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm
◎上測頭曲率半徑:15-50mm
◎測頭對試樣施加負荷:0.1-0.5N
◎測量精度: 100vm以內(nèi) <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB6672-86
◎本測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).