主要特點：
- 測量重復性ΔE*ab小于0.01；
- 雙光束反饋系統(tǒng)，實時監(jiān)控和補償光源波動；
- 內置高性能快速光譜儀，實現(xiàn)高精度快速測量；
- 自動變焦功能，可根據(jù)不同的測量孔徑，實現(xiàn)自動變焦；
- 提供SCI 和 SCE 兩種測試模式可選；
- 采用亮度高、壽命長、穩(wěn)定性好的光源；
- 極優(yōu)深色域測量表現(xiàn)，在測量低反射率材料時，仍具有較高的精度和重復性；
- UV 校正功能：對光源的 UV 成分進行有效調控，使熒光增白材料的測量
- 更加精.確；
- 自帶校正及標定功能，方便用戶自行校零和定標。
- 多功能管理分析軟件：包含顏色、反射率、遮蓋率測量以及統(tǒng)計分析功能。
主要技術指標：
1) 測量功能：光譜反射率曲線；
2) 色空間/顏色參數(shù)：L*a*b、L*C*h、Yxy、Luv、Hunter Lab 、XYZ、RGB、△E*ab、△E*94、△E*00、CMC（2：1）、CMC（1：1）、MI、WI（ASTM313/CIE）、YI（ASTM 313/ASTM D1925）等參數(shù)
3) 照明/接收條件：反射：d/8（漫射照明/8°接收） 符合ISO、DIN 、CIE、ASTM要求；
4) SCI/SCE同步測量：
SCI（含鏡面反射）/SCE（消除鏡面反射）可選；
5) UV濾除功能：不包括紫外光， 包括紫外光：420納米、460納米和紫外線光校準模式；
6) 測量口徑：
反射測量口徑：LAV：Ф28mm；MAV：Ф11mm；SAV：5×7mm；
7) 波長范圍：380nm-780nm；
8) 波長間隔：*高可到1nm；
9) 反射率范圍：0-200%，分辨率0.01%；
10) 重復性（白板校正后，以10秒間隔測量白色校正板30次）
光譜反射率標準偏差小于0.05%，
色度值標準偏差ΔE*ab小于0.01；
11) 器間差：
色板的平均ΔE*ab值小于0.08；
12) 通訊接口：RS232/USB；
13) 儀器尺寸：310mm×275mm×605mm；
14) 重量：約20kg。
典型應用：
