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TW-S008C——步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室步入式高低溫濕熱試驗(yàn)房

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公司名稱深圳市圖為儀器設(shè)備有限公司
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廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2023/12/11 20:23:38
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圖為儀器同時(shí)還生產(chǎn)：低壓計(jì)量箱接插件插拔壽命試驗(yàn)裝置、接插件性能試驗(yàn)裝置、電子式懸臂梁沖擊試驗(yàn)機(jī)、電子式懸臂梁沖擊試驗(yàn)儀、電氣開關(guān)操作壽命試驗(yàn)裝置、開關(guān)電器壽命試驗(yàn)裝置、低壓電箱材料標(biāo)志耐破壞剝落試驗(yàn)儀、材料標(biāo)志耐破壞剝落試驗(yàn)裝置、熔斷器動(dòng)作特性試驗(yàn)機(jī)、熔斷器動(dòng)作特性試驗(yàn)裝置、燈具電氣機(jī)械接觸系統(tǒng)試驗(yàn)裝置、電能表內(nèi)外置繼電器測(cè)試裝置、智能電表負(fù)荷開關(guān)檢測(cè)試驗(yàn)裝置、接觸器綜合測(cè)試臺(tái)(同期性測(cè)試、接觸器觸點(diǎn)電阻測(cè)試、接觸器分?jǐn)嗄芰y(cè)試、接觸器動(dòng)作電流波形捕獲功能，吸合電壓、釋放電壓測(cè)試)、時(shí)間電流特性測(cè)試臺(tái)、斷路器時(shí)間電流特性功能測(cè)試裝置、斷路器脫扣特性綜合測(cè)試臺(tái)(小型斷路器、塑殼斷路器、溫升及功耗測(cè)試)、低壓計(jì)量箱耐扭力和靜載測(cè)試裝置、低壓計(jì)量箱耐撞擊試驗(yàn)裝置、IK撞擊試驗(yàn)裝置、低壓計(jì)量箱沖擊試驗(yàn)機(jī)、低壓配電箱柜撞沖擊試驗(yàn)裝置、外置斷路器壽命測(cè)試裝置，外置斷路器壽命測(cè)試臺(tái)、智能型剩余電流保護(hù)器檢測(cè)平臺(tái)、智能電能表插拔力試驗(yàn)臺(tái)、智能電能表溫升測(cè)試臺(tái)、塑殼斷路器脫扣特性測(cè)試臺(tái)、塑殼斷路器瞬時(shí)延時(shí)脫扣特性測(cè)試臺(tái)、TW-VH-D斷路器終檢臺(tái)、高壓斷路器磨合測(cè)試臺(tái)、高壓斷路器回路電阻測(cè)試儀、斷路器高低壓動(dòng)作測(cè)試臺(tái)、接觸器繼電器耐久試驗(yàn)臺(tái)、繼電器接觸器可靠性壽命測(cè)試臺(tái)、隔離器,隔離開關(guān)及高低壓熔斷器特性測(cè)試臺(tái)、高壓真空斷路器綜合特性測(cè)試臺(tái)（導(dǎo)電回路的電阻、交流耐壓、斷路器的分合閘時(shí)間、斷路器主觸頭分合閘的同期性、斷路器合閘時(shí)觸頭的彈跳時(shí)間、分合閘線圈及合閘接觸器線圈直流電阻和絕緣、開關(guān),隔離器,隔離開關(guān)及高低壓熔斷器特性測(cè)試臺(tái)、接觸器繼電器耐久試驗(yàn)臺(tái)、繼電器接觸器可靠性壽命測(cè)試臺(tái)、熱保護(hù)器性能壽命測(cè)試裝置、壓力敏感自動(dòng)控制器性能與壽命測(cè)試裝置、斷路器機(jī)械壽命測(cè)試臺(tái)、高壓真空斷路器綜合特性測(cè)試臺(tái)、隔離開關(guān)溫升負(fù)載壽命綜合測(cè)試臺(tái)、框架式斷路器動(dòng)作特性試驗(yàn)臺(tái)、永磁式接觸器動(dòng)作特性試驗(yàn)臺(tái)、交流接觸器超程開距測(cè)試儀、交直流接觸器綜合特性測(cè)試臺(tái)、TW-D12K雙電源綜合特性測(cè)試臺(tái)、成套綜合測(cè)試臺(tái)高低壓開關(guān)柜通電試驗(yàn)臺(tái)、高低壓成套設(shè)備綜合特性測(cè)試臺(tái)、負(fù)荷開關(guān)檢測(cè)裝置（閉合操作電壓試驗(yàn)、斷開操作電壓試驗(yàn)

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材料燃燒類檢測(cè)設(shè)備電線電纜類檢測(cè)設(shè)備 GB2099-2008產(chǎn)品系列IP防水試驗(yàn)裝置系列電風(fēng)扇、冰箱等性能試驗(yàn)室低壓電器檢測(cè)設(shè)備電熱毯及紡織品檢測(cè)設(shè)備燈具檢測(cè)設(shè)備（GB7000）

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TW-S008C——步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室步入式高低溫濕熱試驗(yàn)房產(chǎn)品信息

1.2產(chǎn)品名稱：步入式高低溫濕熱試驗(yàn)室
1.3產(chǎn)品型號(hào)：TW-S008C
1.4適用范圍：1.本試驗(yàn)設(shè)備適用：電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高、低溫環(huán)境下儲(chǔ)存、運(yùn)輸和使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。
2.本試驗(yàn)設(shè)備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存；強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存。
1.5符合標(biāo)準(zhǔn) GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法；GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法； GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)方法； GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db：交變濕熱；GB-T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備；GB10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB10586 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
1.6檢定標(biāo)準(zhǔn) 溫度性能測(cè)試按照國家標(biāo)準(zhǔn)JJF1101-2003相關(guān)條款檢定
溫度性能測(cè)試按照國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 5170.2 , GB/T 5170.5 ,溫度性能指標(biāo)的測(cè)試方法
2、主要參數(shù)指標(biāo)
2.1內(nèi)部尺寸：寬3000mm×深3000mm×高2000mm（或其他尺寸）
2.2有效容積：18m3
2.3外形尺寸：寬3500mm×深4250mm×高2280mm（此為預(yù)設(shè)尺寸，實(shí)際設(shè)計(jì)略有偏差）如在高層建筑安裝，請(qǐng)?zhí)峁┴浱?、樓道、門等實(shí)際尺寸，以配合庫體的結(jié)構(gòu)設(shè)定。
2.4溫度范圍：-40℃～+100℃
2.5溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃（空載）
2.6溫度均勻度：≤2.0℃（空載）
2.7濕度范圍：20%～98%（20℃～85℃范圍可控濕度）
2.8濕度偏差：≤± 3%R.H. （空載）
2.9底板承重：≥200KG/m2（空載）
2.10升溫速率：2～3℃/min（空載）
2.11降溫速率：0.7～1℃/min（空載）
2.12側(cè)試孔：￠50mm引線測(cè)試孔1個(gè)，配低導(dǎo)熱性材料的絕熱塞和蓋子。