儀器名稱

冷場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

儀器型號(hào)

 S 4800

生產(chǎn)廠家

日本Hitachi公司

技術(shù)參數(shù)

1)     高分辨率FE-SEM對(duì)下列材料進(jìn)行解析時(shí)具有一定的效果

2)     對(duì)電子材料表面形狀的高分辨率觀察(5nm以下)

3)     對(duì)高分子復(fù)合材料的低加速電壓低損傷觀察

4)     對(duì)納米材料表面／內(nèi)部結(jié)構(gòu)的相輔性觀察

適用領(lǐng)域

1)     廣泛地應(yīng)用于各種金屬材料和非金屬材料的檢驗(yàn)和研究

2)     在材料科學(xué)研究、金屬材料、化學(xué)材料、半導(dǎo)體材料、陶瓷材料等多個(gè)領(lǐng)域可以進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，                材料斷口分析和失效分析

3)     各種材料的形貌組織觀察；材料實(shí)時(shí)微區(qū)成分分析

4)     快速的多元素面掃描和線掃描分布測(cè)量；晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶粒取向測(cè)量

5)     元素定量、定性成分分析

6)     晶體、晶粒的相鑒定

檢測(cè)案例

樣品要求

1)     請(qǐng)根據(jù)自己樣品的性質(zhì)及測(cè)試需求，自行查閱相關(guān)資料后，提供詳細(xì)的測(cè)試條件（電壓、電流、信號(hào)、放大倍數(shù)、標(biāo)尺、                理想的照片等）

2)     樣品量不少于30mg?？梢越邮芄腆w、粉末、薄膜或纖維樣品

3)     潮濕的樣品不能測(cè)試。有機(jī)的樣品需要具體溝通