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TESCAN S9000X FIB-SEM雙束電鏡

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公司名稱上海永傲精密儀器有限公司
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型號(hào)
所在地上海市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2024/1/5 16:43:29
訪問(wèn)次數(shù)199

產(chǎn)品標(biāo)簽:

TESCAN電鏡掃描電子顯微鏡 SEM 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 TESCAN掃描電鏡

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上海永傲精密儀器有限公司是系統(tǒng)集成商，我們的團(tuán)隊(duì)由多年從事清潔度測(cè)試儀，業(yè)納計(jì)量?jī)x器，業(yè)納工業(yè)顯微相機(jī)，光學(xué)軸類測(cè)量機(jī)，奧林巴斯金相顯微鏡，科研相機(jī)，電動(dòng)位移臺(tái)集成的設(shè)計(jì)，自主研發(fā)，服務(wù)，銷售人員組成，并向國(guó)內(nèi)外各大汽車零部件生產(chǎn)商提供優(yōu)質(zhì)服務(wù)，向用戶提供清潔度工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域個(gè)性化，定制化的清潔度檢測(cè)系統(tǒng)方案。

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TESCAN S9000X FIB-SEM雙束電鏡大尺寸試樣進(jìn)行高效率制備和高分辨表征的解決方案

TESCAN S9000X FIB-SEM雙束電鏡產(chǎn)品信息

TESCAN S9000X 是半導(dǎo)體和材料表征中具挑戰(zhàn)性的物理失效分析應(yīng)用的平臺(tái)，具有*的精度和*的效率。 TESCAN S9000X 提供了納米尺寸結(jié)構(gòu)分析所必需的高分辨率和表面靈敏度，為大體積 3D 樣品特性分析提供了很好條件。同時(shí)，它還提供的 FIB 功能，可實(shí)現(xiàn)精確、無(wú)損的超大面積加工，包括封裝技術(shù)和光電器件的橫截面加工。

當(dāng)今半導(dǎo)體器件的物理故障分析已經(jīng)成為一項(xiàng)極其復(fù)雜的任務(wù)，需要處理越來(lái)越小的具有更高密度和更高功能的器件。一般來(lái)說(shuō)，隨著新納米技術(shù)和納米材料的發(fā)展以及集成電路的設(shè)計(jì)和體系結(jié)構(gòu)的日益復(fù)雜，這就需要高度可靠的分析平臺(tái)，以跟上集成電路、光電器件的發(fā)展。TESCAN S9000X 是一個(gè)強(qiáng)大的 FIB-SEM 平臺(tái)，專門設(shè)計(jì)來(lái)應(yīng)對(duì)這樣的挑戰(zhàn)。新一代 Triglav™ 鏡筒的探測(cè)器系統(tǒng)具有優(yōu)異的表面靈敏度和出色的對(duì)比度；另一方面，新的 iFIB+™ 離子鏡筒進(jìn)一步的擴(kuò)大了 Xe 等離子 FIB 應(yīng)用領(lǐng)域，提升了大體積樣本微加工和 3D 微量分析的能力,并且縮短了加工時(shí)間。

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