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日本AET介電常數(shù)分析儀誘電率測(cè)定裝置

參考價(jià)	￥ 850000
訂貨量	≥1套

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱深圳市捷啟電子有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)
所在地深圳市
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024/1/19 15:30:44
訪問(wèn)次數(shù)187

產(chǎn)品標(biāo)簽:

介電常數(shù)分析儀誘電率測(cè)定裝置全自動(dòng)微波介電損耗檢測(cè)儀高頻介電常數(shù)檢測(cè)儀全自動(dòng)介電常數(shù)裝置

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

　　捷啟電子專注于化學(xué)強(qiáng)化玻璃表面應(yīng)力檢測(cè)儀器的研制和銷售，并擁有玻璃應(yīng)力測(cè)試軟件著作權(quán)，為客戶提供中玻璃表面應(yīng)力儀及鋰鋁硅玻璃軟件定制產(chǎn)品。產(chǎn)品分為三大類，全自動(dòng)、高精度玻璃應(yīng)力儀應(yīng)用于計(jì)量及科研領(lǐng)域，客戶涵蓋大學(xué)、國(guó)家*、航天/中科院/中電等科研機(jī)構(gòu)；工業(yè)用玻璃應(yīng)力儀廣泛應(yīng)用于車載加工領(lǐng)域，客戶包括信利半導(dǎo)體、星星光電、天馬微、等大尺寸生產(chǎn)廠商，*；手機(jī)玻璃檢測(cè)應(yīng)力儀成為華為和oppo vivo 小米等終端廠商的*品牌，并在京東方、天馬微、藍(lán)思、伯恩、韓國(guó)jntc等手機(jī)面板供應(yīng)商大量推廣。

　　捷啟電子具有玻璃表面應(yīng)力儀獨(dú)立研發(fā)，光學(xué)和機(jī)械核心元件制造，光學(xué)裝校，和性能測(cè)試的全過(guò)程能力。掌握玻璃表面應(yīng)力儀的核心技術(shù)，光學(xué)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、應(yīng)力儀用光學(xué)鏡片的制造、標(biāo)準(zhǔn)鏡頭的生產(chǎn)全部實(shí)現(xiàn)自產(chǎn)自供。具備光學(xué)光源加工、led-595nm、led-365nm、led-790nm定量加工的技術(shù)能力。

　　隨著公司不斷成長(zhǎng)，目前具有年產(chǎn)500臺(tái)玻璃應(yīng)力儀(fsm-6000le、fsm-6000leuv、fsm-6000leir)的能力，累計(jì)銷售超過(guò)2000臺(tái)，結(jié)合完善的銷售渠道和售后服務(wù)，服務(wù)全國(guó)的科研院所，大學(xué)和企業(yè)，并銷往日本，韓國(guó)、美國(guó)和歐洲等地。

展開(kāi)顯示更多內(nèi)容

鋼化玻璃應(yīng)力儀、折射液及耗材等，散亂光光彈性應(yīng)力儀，Rosh高效液相色譜儀，水滴角測(cè)量?jī)x

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	進(jìn)口

日本AET微波(高頻)介電常數(shù)分析儀, 利用微波技術(shù)結(jié)合高Q腔以及3D電磁場(chǎng)模擬技術(shù)，采用德國(guó)CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM，測(cè)量材料的高頻介電常數(shù)，此方法保證了介電常數(shù)測(cè)量結(jié)果的精確性。日本AET介電常數(shù)分析儀誘電率測(cè)定裝置

日本AET介電常數(shù)分析儀誘電率測(cè)定裝置產(chǎn)品信息

介電常數(shù)分析儀器簡(jiǎn)介：

日本AET微波(高頻)介電常數(shù)分析儀, 利用微波技術(shù)結(jié)合高Q腔以及3D電磁場(chǎng)模擬技術(shù)，采用德國(guó)CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM，測(cè)量材料的高頻介電常數(shù)，深圳田野儀器-中國(guó)市場(chǎng)總代理此方法保證了介電常數(shù)測(cè)量結(jié)果的精確性。

一、技術(shù)參數(shù)：

可測(cè)試頻率范圍： 800M～40GHz

介電常數(shù)Epsilon：1-15，準(zhǔn)確度： ±1%，

介電損耗tangent delta：0.1-0.001，準(zhǔn)確度：±5%
共有兩種同軸共振腔，每個(gè)腔可測(cè)五個(gè)頻點(diǎn):
TyPe A： 0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz

TyPe B: 1/3/5/7/9GHz

二、主要特點(diǎn)：

同軸共振腔適用于不同形狀樣品。

包括薄膜樣品的非破壞性測(cè)量，使用簡(jiǎn)易的逐步操作，內(nèi)置的反饋振蕩器電路可實(shí)現(xiàn)精確的量測(cè)。

三、應(yīng)用領(lǐng)域：

高速數(shù)字/微波電路用基底材料；濾波器和介電天線用低損耗電介質(zhì) ；化學(xué)制品；

薄膜與新材料；半導(dǎo)體材料；電子材料（包括CCL和PCB）

陶瓷材料；納米材料；光電材料等