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TESCAN掃描電鏡XEIA3

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公司名稱上海百賀儀器科技有限公司
品牌
型號XEIA3
所在地
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
更新時(shí)間2024/2/16 16:04:34
訪問次數(shù)93

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公司介紹主營產(chǎn)品

上海百賀儀器科技有限公司由上海佰衡儀器科技有限公司組建而來。多年來佰衡儀器精心研發(fā)制造各種試驗(yàn)機(jī)、試驗(yàn)箱及非標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，服務(wù)于全國各大企業(yè)院所，是一家技術(shù)型的生產(chǎn)廠家。為了更好服務(wù)客戶，滿足用戶一站式的采購需求，上海百賀儀器順勢而生，并與國內(nèi)外多家優(yōu)秀儀器供應(yīng)商*保持良好穩(wěn)定的合作關(guān)系，能夠在產(chǎn)品價(jià)格、技術(shù)服務(wù)、儀器維修、配件供給、軟件升級等方面得到更多的支持，讓客戶獲取更多的增值服務(wù)。
上海百賀儀器科技有限公司秉承‘佰衡儀器’的經(jīng)營理念，一直致力于提升中國實(shí)驗(yàn)室檢測水平，作為專業(yè)化的儀器公司，我們能為您提供更全面、更優(yōu)質(zhì)、更專業(yè)的實(shí)驗(yàn)室解決方案。百賀儀器的產(chǎn)品及服務(wù)涉及金屬、橡膠、塑料、石油、建筑材料、汽車、電子、電工、家電、醫(yī)療、包裝印刷等諸多領(lǐng)域，享譽(yù)八方。

百賀儀器堅(jiān)持“客戶*，服務(wù)*”的服務(wù)理念，崇尚“誠信、奉獻(xiàn)、共贏”的企業(yè)價(jià)值觀，勵(lì)精圖治，開拓進(jìn)取。公司由一支充滿活力的高素質(zhì)開拓型團(tuán)隊(duì)組成，技術(shù)過硬，經(jīng)驗(yàn)豐富，可以滿足不同客戶的需求，為客戶提供周到、熱情、滿意的服務(wù)。不論是售前還是售后服務(wù)，百賀儀器都力求嚴(yán)謹(jǐn)、及時(shí)、全面；換位思考，仔細(xì)傾聽，做客戶忠實(shí)的顧問式伙伴。

百賀儀器的承諾：*的品質(zhì)，專業(yè)的服務(wù)。

百賀儀器的目標(biāo)：您Z貼心的實(shí)驗(yàn)儀器供應(yīng)商。

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顯微鏡，拉力試驗(yàn)機(jī)，硬度計(jì)，高低溫試驗(yàn)箱，磨拋機(jī)，切割機(jī)，玻璃紙

產(chǎn)品簡介在線詢價(jià)

TESCAN掃描電鏡XEIA3是一款的集多種功能于一體的新型雙束聚焦(XE)掃描電子顯微鏡,它性能優(yōu)異,為用戶提供的整體解決方案.XEIA3不僅配有大功率的FIB以進(jìn)行超快速的微米或納米級切割,還具備出色的低能粒子束成像能力,同時(shí)亦可以進(jìn)行快速可靠地顯微分析以及樣品分析的3D重建.

TESCAN掃描電鏡XEIA3 產(chǎn)品信息

關(guān)鍵參數(shù)特征

功能強(qiáng)大的SEM電子光學(xué)系統(tǒng)，采用高亮度的Schottky發(fā)射器為電子源，具有束流大，噪點(diǎn)低，非凡的成像能力等特點(diǎn)
In-Beam探測器能夠確保在極小的工作距離下仍能收集信號，進(jìn)行高品質(zhì)成像
采用Xe等離子體源的超快速FIB系統(tǒng)。束流大，具有驚人的離子束切割速度，因此在切除大體積塊狀材料時(shí)卓有成效；
同時(shí)較低的離子束流便于完成樣品表面拋光
電子束減速技術(shù)（BDT）助力于進(jìn)行超低著陸電壓下的成像
隔離材料的植入、摻雜或降解更少，這點(diǎn)對于半導(dǎo)體行業(yè)相當(dāng)重要
SEM與 FIB兩系統(tǒng)互補(bǔ)，即使用FIB進(jìn)行樣品切割或沉積時(shí)，可同時(shí)進(jìn)行SEM成像拍照
TESCAN電鏡的各種自動(dòng)化操作技術(shù)，如In-Flight Beam TracingTM技術(shù)可通過計(jì)算精確的調(diào)節(jié)高分辨率成像所需的參數(shù)設(shè)置
（例如工作距離WD、放大倍率等）
DrawBeam 軟件模塊是一個(gè)便于進(jìn)行圖案設(shè)計(jì)的工具，3D功能亦很強(qiáng)大，使用它可在FIB切割或粒子束蝕刻等過程可實(shí)時(shí)獲取圖像
為3D EDX及3D EBSD等三維顯微分析技術(shù)帶來全新的解決方案
集成了飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）與掃描探針顯微技術(shù)，可擴(kuò)展的大樣品室，使用戶能夠進(jìn)行6’’、8’’ and 12’’ 的晶片光刻檢驗(yàn)，
12’’ 晶片光刻檢驗(yàn)是TESCAN電鏡的技術(shù)能力
氣體注入系統(tǒng) (GIS) 有助于使FIB完成更多應(yīng)用
高性能的電子成像能力，其成像速率可高達(dá)20 ns/pxl, 同時(shí)具備出色的沉積速率及超快的掃描速度
渦輪分子泵及前級泵的高效能有利于保持樣品室的清潔度；電子槍通過離子吸氣泵獲得真空