英國ABI-6400與ABI-6500電路板故障檢測(cè)儀參數(shù)主要區(qū)別:
| 6400 | 6500 | |
| 測(cè)試范圍 | 5V數(shù)字IC | 多種電源數(shù)字IC |
| 后置驅(qū)動(dòng)能力 | 400mA （MAX） | 600mA （MAX） |
| 隔離信號(hào)通道 | 4組信號(hào) | 8組信號(hào)（支持較大驅(qū)動(dòng)電流） |
| 測(cè)量電壓范圍 | +10V~ -10V | +20V~ -20V |
主要功能:
64通道數(shù)字集成電路在線、離線功能測(cè)試
64通道V-I曲線模擬通道測(cè)試（可測(cè)模擬器件）
強(qiáng)大的元器件和整板仿真測(cè)試功能
閾值電平零界點(diǎn)掃描測(cè)試
短路追蹤測(cè)試（低電阻測(cè)試）
實(shí)時(shí)顯示輸出邏輯電平值
存儲(chǔ)器功能測(cè)試
數(shù)字時(shí)序編輯功能
未知器件型號(hào)查詢
程控電源供電
測(cè)試準(zhǔn)確-源自*的測(cè)試技術(shù)
同一器件同一時(shí)間完成多種測(cè)試:功能測(cè)試,V-I曲線測(cè)試,溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試,連接狀態(tài)測(cè)試,管腳電壓測(cè)試等.
圖形化元件測(cè)試庫的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯測(cè)試完成,方便快捷的建立起測(cè)試庫中沒有的元件庫.
整板測(cè)試非常簡單,通過圖形化的測(cè)試庫編輯器,根據(jù)電路板原理,定義輸入激勵(lì)信號(hào)及測(cè)試輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào),快速建立板測(cè)試庫,快速批量檢測(cè)電路板的功能.
邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的故障元器件.
邏輯電平閾值自定義.可以設(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值,檢查不穩(wěn)定的元器件.
短路電阻測(cè)量功能:三段低電阻測(cè)量范圍,可以用圖像及聲音的變化來表示電阻值大小,此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值,及檢查短路點(diǎn).
輸出邏輯時(shí)序圖形顯示,具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體測(cè)試信息.
V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)元器件直接進(jìn)行測(cè)試,曲線電壓掃描范圍:-10v~+10v;測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào),正負(fù)電壓可以不*,例如:-2.5v~+10v zui大限度地保證測(cè)試的安全性.其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.掃描信號(hào)可達(dá)幾十種.
電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品特征:
中英文測(cè)試軟件,USB接口.
數(shù)字測(cè)試通道:64路（可擴(kuò)充到256通道）.
模擬測(cè)試通道64路（可擴(kuò)充到256通道）.
1路v-i探棒測(cè)試隔離通道:4路.總線競(jìng)爭信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭,確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等）,可提供4路總線競(jìng)爭隔離信號(hào),6500可提供8路隔離信號(hào).
能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試;測(cè)試庫達(dá)上萬種元器件,可以通過圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫,可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫配有離線測(cè)試盒,快速測(cè)試批量元器件.離線測(cè)試和在線測(cè)試功能**.
IC型號(hào)識(shí)別:標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可"在線"或"離線"進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試.
讀寫存儲(chǔ)器功能測(cè)試5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過電壓及過電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測(cè)試。
數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開路，自動(dòng)上加上拉電阻。
V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。
數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù)規(guī)格：
| 數(shù)字集成電路測(cè)試參數(shù)規(guī)格 | |
| 測(cè)試通道數(shù): | 64通道可擴(kuò)展到256通道/6500可擴(kuò)充2048通道 |
| 總線隔離信號(hào)通道數(shù): | 4通道or 8通道 |
| 實(shí)時(shí)比對(duì)功能: | 需有二個(gè)64通道, 或128通道 |
| 輸出驅(qū)動(dòng)電壓 | TTL/CMOS 標(biāo)準(zhǔn) |
| 輸出驅(qū)動(dòng)電流: | 電流依不同的邏輯電平閾值有下列區(qū)分 |
| 一般H-L 80mA @ 0.6V | |
| 一般 L-H 200mA @ 2V | |
| Max. 400mA | |
| 驅(qū)動(dòng)電壓轉(zhuǎn)換比: | >100V/μs |
| 電壓范圍: | +/-10V |
| 輸入阻抗: | 10k |
| 邏輯形態(tài): | 三態(tài)或開集極開路（內(nèi)定或由程序設(shè)定） |
| 驅(qū)動(dòng)邏輯形態(tài): | Low,high,三態(tài)（tri-state） |
| 過電壓保護(hù)范圍: | <0.5V,>5.5V |
| zui長測(cè)試時(shí)間: | 根據(jù)被測(cè)元器件而定 |
| 測(cè)試方式: | 在線及離線測(cè)試（需外接離線測(cè)試盒） |
| 測(cè)試功能及參數(shù) | 參數(shù)主要區(qū)別 |
| 集成電路功能測(cè)試 | 根據(jù)元件原理和真值表進(jìn)行功能測(cè)試 |
| 元器件連接特性測(cè)試 | 短路狀態(tài)偵測(cè) |
| 懸?。ǜ〗樱顟B(tài)偵測(cè) | |
| 開路狀態(tài)偵測(cè) | |
| 連接狀態(tài)偵測(cè):6500可以自定義儀器輸出通道的電壓范圍（-10~+10v）,模擬仿真測(cè)試范圍更加廣泛. | |
| 電壓測(cè)量 | zui小解析10mV范圍+/-10V |
| 具邏輯狀態(tài)偵測(cè) | |
| VI曲線測(cè)試: | 測(cè)試通道數(shù)64 256（擴(kuò)展） |
| 電壓設(shè)定范圍-10Vto+10V（可自行設(shè)定）,可以設(shè)置非對(duì)稱電壓掃描 | |
| zui大測(cè)試電流 1mA | |
| 曲線拐點(diǎn)系數(shù): | 管腳的v-i曲線圖中的拐點(diǎn)圖形,隨溫度產(chǎn)生變化的系數(shù),對(duì)于判定溫漂的故障元件非常有助 |
電源供給規(guī)格參數(shù)：
| 自動(dòng)供給電源輸出: | 1 x 5V @ 5A 固定式 |
| （2x5V@5A固定式for128信道） | |
| 過電壓保護(hù): | 7V |
| 過電流保護(hù): | 7A |
| 測(cè)試模式 | |
| 單次（Single）: | 單次測(cè)試 |
| 循環(huán)（Loop）: | 反復(fù)測(cè)試,或條件式循環(huán)測(cè)試（PASS或FAIL） |
| 自動(dòng)掃描測(cè)試: | 可找到較為嚴(yán)格的邏輯電平閾值 |
| 邏輯電平閾值設(shè)定規(guī)格參數(shù) | |
| zui小調(diào)整解析: | 100mV |
| 低信號(hào)位準(zhǔn): | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 轉(zhuǎn)態(tài)位準(zhǔn): | TTL 1.0V to 2.3V/CMOS 1.0V to 3.0V |
| 高信號(hào)位準(zhǔn): | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
| 掃描低邏輯范圍: | TTL 0.1V to 1.1V/CMOS 0.1V to 1.5V |
| 掃描邏輯轉(zhuǎn)態(tài)范圍: | TTL 1.2V/CMOS 2.5V |
| 掃描高邏輯范圍: | TTL 1.9V to 4.9V/CMOS 1.9V to 4.9V |
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