日立高新HITACHI（精工）EDXRF SEA1000AⅡ
日立高新HITACHI（精工）（SEA1000S、SEA1000A、SEA1000AⅡ、SEA1200VX、SEA6000VX，均能升級至測定鹵素）匯聚能散型熒光X射線分析儀的技術(shù)，成功地開發(fā)了可簡單快速的測定出禁止使用的鎘，鉛，水銀和鹵素等有害物質(zhì)的機型SEA1000AⅡ，適用于WEEE&RoHS、鹵素、EM71/ASTM963、ELV分析及其他專業(yè)分析。由于搭載無液氮檢出器，SEA1000AⅡ HS可在任何條件下，簡單，快捷地完成高于RoHS和鹵素規(guī)定的高精度測定。
1.SEA1000AⅡ搭載無液氮檢出器，在任何的生產(chǎn)，質(zhì)檢現(xiàn)場都可實現(xiàn)簡單的測定。
2.大大提高了鎘（Cd）等元素的檢出下限。檢出下限可至ppm級，，均能升級至測定鹵素。
3.由于采用DSP（Digital Si gnal Processor）技術(shù)，SEA1000AⅡ?qū)嶋H測定時間縮短到原來的一半以上。
4.采用370×320×155mm大型樣品倉，SEA1000AⅡ保證樣品在非破壞的條件下測定。
5.采用大檢測器，在設(shè)計上將其與樣品間距縮到zui小。
6.SEA1000AⅡ保證高效的X射線檢測能力，SEA1000AⅡ其檢出靈敏度超過Si（Li）檢驗器。
7.歐洲RoHS規(guī)定中限制的Cd,Pb,Hg,Br,Cr等各種元素均可微量檢出。
8.擁有補正功能可以對各種形狀、厚度、面積的合成樹脂的測定進行補償，得到準(zhǔn)確的結(jié)果。
9.SEA1000AⅡ擁有容易對樣品詳細(xì)數(shù)據(jù)和測定結(jié)果對比的有害金屬數(shù)據(jù)管理功能。
10.測定數(shù)據(jù)可輸出至Microsoft Word Excel軟件，SEA1000AⅡ輕松的完成書面報告。
