X射線的本質(zhì)其實(shí)是一種波長(zhǎng)很短的電磁輻射，具有很強(qiáng)的穿透能力，照射到物體上時(shí)，有一小部分會(huì)被物質(zhì)吸收，大部分射線會(huì)經(jīng)由原子間隙透過(guò)，經(jīng)過(guò)衰減后被探測(cè)器吸收，再通過(guò)工作站的數(shù)據(jù)重建完成三維模型。在此基礎(chǔ)上，CT檢測(cè)在電子行業(yè)成為一種重要的無(wú)損檢測(cè)手段。

通過(guò)掃描數(shù)據(jù)觀測(cè)，可輕松實(shí)現(xiàn)從小尺寸零部件到大尺寸整機(jī)的三維微觀結(jié)構(gòu)的掃描，進(jìn)一步分析樣品內(nèi)部的三維尺寸、孔隙度分布、密度變化、夾雜分布及大小、裂縫、孔洞等等信息，為電子零部件、整機(jī)或聲學(xué)產(chǎn)品的質(zhì)量分析提供可靠數(shù)據(jù)依據(jù)。

由于X射線檢測(cè)系統(tǒng)可在不破壞樣品狀態(tài)的情況下三維數(shù)字化直觀描述樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的特點(diǎn)，目前CT系統(tǒng)在消費(fèi)電子行業(yè)已成為一種實(shí)用化的無(wú)損檢測(cè)手段，廣泛用于工藝研發(fā)、原材料來(lái)樣采樣檢測(cè)、產(chǎn)品綜合檢驗(yàn)、復(fù)雜缺陷的定位、高風(fēng)險(xiǎn)組件/模塊缺陷檢查、質(zhì)量控制、生產(chǎn)線大批量電子零件的采樣檢驗(yàn)、失效分析等等各個(gè)工藝環(huán)節(jié)。

2024年9月20日，優(yōu)爾鴻信聯(lián)合上海英華檢測(cè)開(kāi)展“CT在電子行業(yè)的技術(shù)及應(yīng)用”網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)，邀請(qǐng)了王威博士，在線詳細(xì)介紹工業(yè)射線/CT在電子行業(yè)的技術(shù)及應(yīng)用，并即時(shí)為您答疑解惑。