POL/M-Ⅰ機(jī)械斬波模擬器化學(xué)儀器工作原理：

       對(duì)旋光儀及旋光糖量計(jì)的測(cè)定光源進(jìn)行一定比例的機(jī)械斬光，從而獲得需要的透過(guò)率模擬量值。機(jī)械斬波式低透過(guò)率模擬器采用了全新的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，該技術(shù)不僅解決了使用中需更換斬光板的問(wèn)題，也克服了高速旋轉(zhuǎn)板外漏存在的安全隱患。

部件組成：

       1測(cè)試座、 2高速電機(jī)、3后防護(hù)擋板、4斬光板、5定位板和6前防護(hù)擋板

POL/M-Ⅰ機(jī)械斬波模擬器化學(xué)儀器指標(biāo)參數(shù)：

       電機(jī)轉(zhuǎn)速＞8000r／min

       額定功率 50W

       額定電源 AC220V，50Hz

       可提供4個(gè)低透過(guò)率模擬值，分別為1％、10％、5％和16％

       （機(jī)械斬波式低透過(guò)率模擬器包括了JJG 536檢定規(guī)程所要求的，用于示值誤差和重復(fù)性檢定的1％和10％低透過(guò)率模擬值，還包括了5％和16％低透過(guò)率模擬值；透過(guò)率模擬值相對(duì)誤差優(yōu)于±5％）

使用方法：

       1、變換定位板的位置，可以獲得1％、10％、5％和16％透過(guò)率模擬量值。

       2、通過(guò)前、后防護(hù)擋板的圓孔，觀察此時(shí)定位板的位置，可以用針狀物輕輕撥動(dòng)定位板轉(zhuǎn)動(dòng)，以便觀察。在儀器工作過(guò)程中禁止任何物品進(jìn)入圓孔內(nèi)。

       3、變換定位板位置步驟。

               ⑴ 旋下前擋板上的四個(gè)螺絲，取下前檔板。

               ⑵ 旋松定位板的固定螺絲，取下定位板。

               ⑶ 調(diào)整定位板與斬光板的相對(duì)位置，使得定位板開(kāi)口與所需斬光板扇形開(kāi)口相對(duì)應(yīng)。

               ⑷ 緊固定位板的固定螺絲。

               ⑸ 安裝前擋板，并將四個(gè)螺絲緊固。

               ⑹ 如果需要16％透過(guò)率模擬量值，則取下定位板即可。

維護(hù)保養(yǎng)：

       1. 本儀器屬于計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)器，具有準(zhǔn)確的低透過(guò)率模擬量值，在搬運(yùn)過(guò)程中防止跌落或強(qiáng)烈的震動(dòng)。

       2. 儀器使用完畢，請(qǐng)及時(shí)從電源插座上拔下電源插頭，并將儀器放入儀器箱內(nèi)。

       3. 斬光板扇形開(kāi)口角度決定了低透過(guò)率模擬量值的大小，需防止斬光板磕碰及受力，以免受損變形，并保持?jǐn)毓獍宓臐崈簟?/span>

       4. 如發(fā)現(xiàn)斬光板和定位板表面污染或有灰塵，可拆下用中性清洗劑進(jìn)行清潔。安裝時(shí)須確保斬光板和定位板與前、后護(hù)板沒(méi)有任何接觸。

       5. 低透過(guò)率模擬量值是以斬光板上兩個(gè)扇形開(kāi)口角度之和占360°度的百分比。出廠時(shí)已隨儀器提供了計(jì)量技術(shù)機(jī)構(gòu)出具的檢測(cè)報(bào)告。

       儀器在使用過(guò)程中，低透過(guò)率模擬量值不會(huì)發(fā)生變化，即在允許的誤差范圍之內(nèi)。如果需要再次檢測(cè)，可將斬光板拆下，并將斬光板單獨(dú)送計(jì)量技術(shù)機(jī)構(gòu)對(duì)1.80×2、90×2和180×2三組（6個(gè)）扇形開(kāi)口角度進(jìn)行檢測(cè)，檢測(cè)設(shè)備使用準(zhǔn)確度優(yōu)于1′的工具顯微鏡。

       6. 如在使用過(guò)程中儀器出現(xiàn)不正常的噪音，可能是定位板或斬光板與前、后防護(hù)擋板有接觸性的摩擦，必須馬上關(guān)閉電源，并拔出電源插頭，拆開(kāi)前擋板進(jìn)行檢查，調(diào)整斬光板在電機(jī)轉(zhuǎn)軸的位置，進(jìn)而排除定位板或斬光板與前、后防護(hù)擋板的接觸。

       7. 一般性的接觸摩擦后，不會(huì)改變斬光板扇形開(kāi)口的角度，即不會(huì)影響低透過(guò)率模擬量值。