詳細(xì)介紹
ARL EQUINOX 5000 系統(tǒng)在 θ/θ 或 θ/2θ 模式中利用的高垂直測(cè)角儀。
其特點(diǎn)包括更高分辨率的探測(cè)器和大量可供選擇的 X 射線(xiàn)源。
大型樣品室可容納幾乎任何樣品和包括馬弗爐、自動(dòng)進(jìn)樣器和大型組件的樣品處理設(shè)備。
軟件應(yīng)用:定性分析、物相鑒別和定量、結(jié)晶度的測(cè)定、晶體結(jié)構(gòu)分析、不同環(huán)境下的物相轉(zhuǎn)變、薄膜、單軸壓力。
可用樣品架包括用于反射和透射模式的旋轉(zhuǎn)樣品架,用于透射模式的毛細(xì)管樣品架,自動(dòng) 30 位樣品交換器和小型薄層附件。
應(yīng)用范圍:研究、地質(zhì)、采礦、冶金、聚合物、生物材料、電子學(xué)、光電。