GP型黃金鉆石測(cè)試天平   黃金鉆石電子天平    黃金鉆石電子分析天平    黃金鉆石電子稱(chēng)

GP型黃金鉆石測(cè)試天平包括三大產(chǎn)品：適用于珠寶鉆石稱(chēng)量的高精度鉆石天平，適用于貴金屬純度測(cè)試天平和克拉稱(chēng)。GP系列黃金鉆石測(cè)試天平秉承實(shí)驗(yàn)室產(chǎn)品的優(yōu)良品質(zhì)，和良好的性能價(jià)格比，可以廣泛應(yīng)用于金銀制造、鉆石加工、寶石研究、經(jīng)營(yíng)貿(mào)易等各領(lǐng)域。

功能：

• 快速、準(zhǔn)確讀取黃金K值、貴金屬純度％。

• 測(cè)試后不會(huì)對(duì)樣品留下任何污漬和劃傷。

• 的功能可直接顯示黃金K值及純度％。

• 具有混合比功能，可測(cè)試其他貴金屬。

• 采用大水槽，降低吊籃線(xiàn)因浮力產(chǎn)生的誤差。

• 取下水槽可當(dāng)普通分析天平使用。

• 不能測(cè)試鑲有寶石、空心的樣品。