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激光干涉膜厚測(cè)量?jī)x

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Xper-IP激光干涉膜厚測(cè)量?jī)xXper-IP是基于公司的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量設(shè)備

詳細(xì)介紹

Xper-IP激光干涉膜厚測(cè)量?jī)x

Xper-IP是基于公司的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。Xper-IP可用于測(cè)量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度。

薄膜測(cè)厚儀，激光，膜厚測(cè)量?jī)x，激光干涉薄膜測(cè)量系統(tǒng)

韓國Nanobase公司是一家專注于激光和光譜測(cè)量領(lǐng)域的高科技公司，旗下有多種產(chǎn)品，包括成像系統(tǒng)，光學(xué)相干斷層掃描系統(tǒng)，和激光干涉薄厚測(cè)量?jī)x。

Xper-IP正是基于Nanobase的光譜干涉技術(shù)的一款膜厚測(cè)量?jī)x，是一種非接觸式、無損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。Xper-IP可用于測(cè)量各種材料（如各種薄膜，鍍膜，顯示面板等）的厚度，產(chǎn)品具有以下特點(diǎn)：

精度 ±0.2 %

重復(fù)準(zhǔn)度 ±0.003 %

超寬測(cè)量范圍 0.03 mm to 1.2 mm
人性化軟件，易于使用

性價(jià)比高

同時(shí)測(cè)量多層膜厚

結(jié)構(gòu)堅(jiān)固，適用于實(shí)驗(yàn)室和工業(yè)環(huán)境

參數(shù)

型號(hào)	Xper-ITP（激光干涉測(cè)厚）	Xper-（激光干涉測(cè)表面形貌）
測(cè)量范圍	100-1000微米，200-2000微米，(或者定制波長(zhǎng)范圍，與分辨率成反比)
準(zhǔn)確度	±0.2 %
重復(fù)性	單點(diǎn)：0.01% full range（<>）平均：0.003% full range（<>）
速度	激光：標(biāo)準(zhǔn)30pps，（Max：100，000pps）
光源	激光：SLD(840nm)