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電子元器件測試

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更新時間：2023-08-10 19:44:19瀏覽次數(shù)：308次

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上海華測品標(biāo)檢測技術(shù)有限公司

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產(chǎn)品簡介

電子設(shè)備主要是由電子元器件組成的。電子元器件是構(gòu)成電子設(shè)備最小和最基本的單元，電子元器件的可靠性直接影響電子設(shè)備可靠性。CTI華測檢測可以針對元器件從無損檢測、破壞性物理分析、失效分析、可靠性分析等各方面進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)檢測，為產(chǎn)品的工藝改進(jìn)、質(zhì)量及可靠性的提升提供支持。

詳細(xì)介紹

業(yè)務(wù)挑戰(zhàn)

電子元器件失效的原因是什么？

電子元器件對環(huán)境的耐受性能如何？

如何保證電子元器件的可靠性？

服務(wù)內(nèi)容

1.適用測試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423/IEC 60068系列電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)；

MIL-STD-883K微電子器件試驗(yàn)方法和程序；

MIL-STD-202美軍標(biāo)電子及電氣元件測試方法；

GJB 150系列裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法；

GJB 360B電子及電氣元件試驗(yàn)方法；

GJB 548B微電子器件試驗(yàn)方法和程序；

GJB 4027A電子元器件破壞性物理分析方法；

JESS 22系列環(huán)境可靠性測試；

J-STD 002E元器件引線、端子、焊片、接線柱和導(dǎo)線的可焊性測試；

J-STD 020E非氣密性固體表面貼裝器件的濕熱敏感等級；

J-STD 035非氣密性封裝電子元器件的聲學(xué)顯微鏡掃描等。

2.適用產(chǎn)品范圍

集成電路IC、晶體管、MOS管、電阻、電容、電感、LED、光伏元件、機(jī)電元件、傳感器等。

3.常規(guī)樣品要求

請聯(lián)系我們的業(yè)務(wù)或客服，以具體標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

4.檢測項(xiàng)目

主要測試項(xiàng)目
X-ray透視檢查	濕熱敏感等級
SEM掃描電鏡	XRD測試
超聲波顯微掃描	PCT/HAST高加速應(yīng)力試驗(yàn)
微探針應(yīng)用	高溫
HTOL/LTOL高/低溫操作壽命	溫度循環(huán)
THB溫濕度偏壓	Reflow回流焊
LCR電感電容電阻量測	溫濕度
I-V曲線量測	氣態(tài)冷熱沖擊
切片分析	液態(tài)冷熱沖擊
開封	絕緣電阻
引線鍵合強(qiáng)度	耐電壓
可焊性	壽命
耐焊接熱	機(jī)械振動
金屬耐溶解性	機(jī)械沖擊