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更新時間：2023-08-07 16:41:09瀏覽次數(shù)：290次

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  三坐標測量機(CMM)

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上海百賀儀器科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

源自德國的?？怂箍礚eitz Reference高精度測量機，具備非常高的掃描效率，可以為具有最復雜幾何形狀的工件提供測量解決方案。

詳細介紹

三坐標測量機Leitz Reference采用Leitz的TRAX測頭技術(shù)，配置當今功能完善的軟件之一：QUINDOS使得用戶在完成箱體類工件測量的同時，還可完成包括多種曲面元?，轴摽夊儸、齿轮好擃欆O莞艘約奧擲?、纂s汕嫻榷嘀指叢蛹負渦巫吹牟飭?、黚r /> Leitz Reference 系列測量機是一款具備高性價比的掃描測量裝置，可完成各種復雜的測量任務(wù)，配備由Leitz 研發(fā)并制造的三維測頭系統(tǒng)。既可執(zhí)行單點測量來完成典型的測量任務(wù)，也可以高速掃描的方式輕松應(yīng)對復雜的形狀輪廓測量。
Leitz Reference 的測量精度和其通用性很大程度上取決于所配備的三維測頭系統(tǒng)，在每次測量操作中，該測頭系統(tǒng)都將在被測工件表面的法向量方位上，在XYZ 三個方向自動且同步地測量工件表面。測量中各軸不需鎖定，這意味著測頭將始終垂直于被測工件的表面，而工件表面法向量的實際方向根據(jù)每個測量點來決定，這樣測頭的偏移就可以計算出來并加以補償。

三坐標測量機Leitz Reference技術(shù)參數(shù)
reference 的技術(shù)參數(shù)

機型（x.y.z） (100mm)	E (µm)	P (µm)	THP (µm)	Vmax (mm/sec)	a max (mm/sec2)
10.07.06	0.9 + L / 350	1.0	1.9 / 45s	520	3300
15.09.07	0.9 + L / 350	1.0	1.9 / 45s	520	3300
20.09.07	0.9 + L / 350	1.0	1.9 / 45s	520	3300
22.12.09	1.5 + L / 350	1.5	2.1 / 45s	520	3300
30.12.09	1.7 + L / 350	1.5	2.1 / 45s	520	3300
45.12.09	1.7 + L / 350	1.5	2.1 / 45s	520	3300

用LEITZ REFENCE進行齒輪檢測--相關(guān)技術(shù)指標

	Reference 10.7.6	Reference 15.9.7 20.9.7	Reference 22.12.9 30.12.9 45.12.9
Modul Range [mm]	0.5 - 100	0.5 - 100	0.5 - 100
Max. Gear Dia. - spur [mm]	650	850	1150
Max. Gear Dia. - helical* [mm]	450	600	900
Max. Gear Width [mm]	600	700	900
Max. Shaft Length [mm]	1000	1500 / 2000	2000 / 3000 / 4500

環(huán)境要求
標準環(huán)境溫度：19 - 21ºC
溫度梯度：1K
相對濕度：30%-80%，無冷凝

三坐標測量機Leitz Reference技術(shù)特點
Leitz Reference 系炔飭炕復瓴飭炕南冉際跤諾閿諞簧懟Ｉ杓粕細蛄罰⒕櫓?，其零件数量较泼洦的诧喛机?0%。
基于計算機輔助設(shè)計，如有限元分析(FEA) 或模式分析，在偏差，振動影響以及機器動態(tài)性能方面加以優(yōu)化。
通過TRICISION™ 技術(shù)，降低了機器戎匭模敝岢鋅緹嘞啾卻巢飭炕懟Ⅻbr />
Leitz Reference 的技術(shù)特點
1.全鋁合金剛性的框架。
2.TRICISONTM 設(shè)計提供了的剛性質(zhì)量比，保證了高精密和長期穩(wěn)定性。
3.質(zhì)量很大穩(wěn)固的花崗石工作臺，削弱了振動帶來的影響。
4.整個工作臺由一塊花崗石加工而成，并采用獲得的內(nèi)置一體式燕尾形導軌，因而5.可獲得盡可能高的精度。
5.優(yōu)化的彈性減振系統(tǒng)具有“可變硬度”，可把測量機從周圍環(huán)境的振動中隔離出來。
6.驅(qū)動裝置的工作點分布在移動部分的中心上。
7.高分辨率鋼制光柵的位置靠近導軌，保證了盡可能高的測量復現(xiàn)性。
8.獲得的重量補償系統(tǒng)。
9.由于Reference 支撐較小，且臺面高度較低，故在狹窄的空間內(nèi)也可安裝使用。
10.可無限制地接近測量空間。