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更新時(shí)間：2022-10-19 18:07:38瀏覽次數(shù)：245次
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日本KETT LZ-200J兩用膜厚計(jì) 日本KETT LZ-200J兩用膜厚計(jì)采用電磁和渦流兩種測(cè)量模式，精度達(dá)2%，測(cè)量1500μm內(nèi)的磁性金屬底材涂層或800μm內(nèi)的非磁性金屬上涂層。 ......
日本KETT LZ-200J兩用膜厚計(jì)采用電磁和渦流兩種測(cè)量模式，精度達(dá)2%，測(cè)量1500μm內(nèi)的磁性金屬底材涂層或800μm內(nèi)的非磁性金屬上涂層。
日本KETT LZ-200J兩用膜厚計(jì)產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
LZ-200J采用電磁和渦流兩種測(cè)量模式，可無(wú)損檢測(cè)磁性金屬上非磁性覆層厚度及非磁性金屬上絕緣層厚度，內(nèi)置打印機(jī)、有統(tǒng)計(jì)儲(chǔ)存、連接電腦等功能，對(duì)微小厚度的涂鍍層測(cè)量有較高的準(zhǔn)確度。本產(chǎn)品廣泛用于汽車(chē)制造、船舶制造、金屬加工等各領(lǐng)域行業(yè)。
日本KETT LZ-200J兩用膜厚計(jì)技術(shù)參數(shù)：
測(cè)定方法：電磁誘導(dǎo)式+渦電流式
測(cè)定對(duì)象：磁性金屬上的非磁性薄膜及非磁性金屬上的絕緣膜
測(cè)量范圍：
電磁式：0～1500μm或60.00 mils
渦流式：0～800μm或32.00 mils
測(cè)量精度：
電磁式：<15μm±0.3μm ≥15μm±2%
渦流式：<50μm±1μm ≥50μm±2%
測(cè)試面積： 3*3mm
測(cè)試單位：公/英制
分辨率： ≤100μm0.1μm ≥100μm1.0μm
統(tǒng)計(jì)功能： 測(cè)試次數(shù)、較大/較小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差
顯示方式：LED數(shù)顯
探針：一點(diǎn)接觸恒壓式(LEP - J，LHP - J)
外部輸出： RS-232C接口(傳送速度2400 bps)
尺寸、質(zhì)量： 120(W)×250(D)×55(H)毫米，1000g
附件： 探頭/基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/V型塊/變壓器/皮套/合格證/說(shuō)明書(shū)
附加功能：內(nèi)置打印功能、儲(chǔ)存統(tǒng)計(jì)功能、連接電腦功能(RS232標(biāo)準(zhǔn)接口)
界限設(shè)定：可設(shè)定上/下限
電源：電源AC 100V(50 / 60Hz)或電池1.5 V(單3堿)
日本KETT LZ-200J兩用膜厚計(jì)配置清單：
基體x1、校正標(biāo)準(zhǔn)片x1、電池x10、皮套x1、說(shuō)明書(shū)x1
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