光致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)，一體化設(shè)計，操作簡便，中文軟件一鍵自動測量器件所有點數(shù)據(jù)
光致發(fā)光量子產(chǎn)率（PLQY）可以表征樣品的發(fā)光效率,即測量樣品有效利用吸收光的效率,數(shù)學(xué)上可以表示為發(fā)射光子數(shù)和吸收光子數(shù)的比值。我們提供的光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)和電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)可以用來測量材料的發(fā)光性能。
規(guī)格參數(shù)
光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)XPQY-EQE的規(guī)格參數(shù)如下表：
| 名稱 | 熒光/外量子效率測量系統(tǒng) |
| 型號 | XPQY-EQE |
| 主機(jī)部分 |
| 光譜范圍 | 350-1100nm |
| QY準(zhǔn)確性 | ±2%（對比參照羅丹明G6） |
| EL準(zhǔn)確性 | 小于1% |
| 穩(wěn)定性 | 小于0.1% |
| 重復(fù)性 | >99% |
| 探測器 | 背照式面陣制冷型探測器 |
| 積分球參數(shù) |
| 內(nèi)徑 | 3.3英寸 |
| 材料 | Spectralon® |
| 反射率 | 99%（400-1500nm）；>96%（250-2000nm）可溯源至NIST |
| 多通道LED參數(shù) |
| 波長（常用，還有更多選擇） | 365nm,385nm,405nm,450nm |
| 功率調(diào)節(jié)范圍 | 0-99% |
| 激發(fā)光功率（600um光纖輸出端） | 365nm，3.5mW；385nm，5.2mW; |
| 405nm，5mW；450nm，2.5mW。 |
| 半高峰寬 | 365nm,10nm;385nm,11nm;405nm,15nm;450nm,19nm。 |
| 光源穩(wěn)定性 | 0.5%（開機(jī)預(yù)熱3分鐘后） |
| 電致發(fā)光部分 |
| 定制電致發(fā)光夾具 | 1.定制樣品測試夾具：根據(jù)客戶樣品封裝設(shè)計夾具。 |
| 2.夾具適配樣品尺寸：2mm2-1024mm2 |
| 多通道切換器 | 1-8通道軟件控制，一鍵自動測完所有點數(shù)據(jù)。 |
| 軟件 |
| 軟件功能 | PLQY，光致發(fā)光光譜，吸收，發(fā)光材料光致發(fā)光穩(wěn)定性， |
| PLQY具有兩步法和三步法測試方法，兼顧快速測量和消散射激發(fā)功能，使測試結(jié)果更精確； |
| 提供儀器標(biāo)定； |
| EQE，電致發(fā)光光譜，峰值波長，中心波長，半高峰寬，亮度，光效，流明效率，光功率，顏色，器件壽命測量（0-99%L終點設(shè)置），雙段積分時間，兼顧低亮和高亮。適配多種源表（常用2400）等等。 |
電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)XP-EQE-Adv的規(guī)格如下表所示：
| 名稱 | 電致發(fā)光效率測量系統(tǒng) |
| 型號 | XP-EQE-Adv |
| 主機(jī)部分 |
| 光譜范圍 | 200-1000nm |
| 效率測量范圍 | 0-99% |
| EQE光譜范圍 | 350-1000nm |
| 量子效率誤差 | <3% |
| 儀器重復(fù)性 | >99% |
| 探測器 | 背照式面陣制冷型探測器 |
| 積分球參數(shù) |
| 內(nèi)徑 | 3.3英寸 |
| 材料 | Spectralon®量子效率專用 |
| 積分球反射率 | >96%（250-2000nm） |
| 電致發(fā)光部分 |
| 定制電致發(fā)光夾具 | 根據(jù)用戶提供樣品定做 |
| 多通道切換器 | 軟件一鍵自動測量器件所有點數(shù)據(jù) |
| 儀器尺寸 | 380mmX280mmX201mm |
| 設(shè)備特點 | 整機(jī)一體化設(shè)計測量更加穩(wěn)定； |
| 儀器可直接放入手套箱使用； |
| 可設(shè)置任意百分比亮度情況下的器件壽命（T0-99%L） |
| 校準(zhǔn)服務(wù) | 儀器終生免費(fèi)校準(zhǔn) |
| 軟件 |
| 軟件功能 | EQE； I-V-L；電致發(fā)光光譜；峰值波長；中心波長；半高峰寬；電流密度；光效；光功率；光子數(shù)；光能量；流明效率；顏色測量；器件壽命測量；雙段積分時間；顯色指數(shù)；色溫。 |
另外我們專門為熒光量子效率測量系統(tǒng)和電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)配備了相關(guān)的操作軟件，兼容各個主流電腦系統(tǒng)，并且經(jīng)過幾十個版本的更新迭代，軟件的操作已經(jīng)十分成熟，其操作的學(xué)習(xí)過程也很簡單，只需要半個小時就可以上手操作使用使用，沒有負(fù)擔(dān)，并且軟件控制多通道切換器，一鍵測試完一片芯片上的所有發(fā)光點，十分便捷。
EQE（外量子效率）的測量
目前精度較高的測量EQE的方法主要有兩種，種為光分布法，第二種為積分球法。之前測量EQE的方法是會采用通過亮度計測量法線方向的亮度，以及通過標(biāo)準(zhǔn)朗伯體分布理論計算得到器件的EQE值。這是比較常見的、傳統(tǒng)的測量方式，但其實存在很大的缺陷。由于實際中器件的朗伯體分布并非標(biāo)準(zhǔn)的余弦分布，會有部分分布不均的現(xiàn)象，此時通過理論計算的結(jié)果會非常不準(zhǔn)確。而光分布法就可以解決這個問題，光分布法可以更準(zhǔn)確的檢測出發(fā)光器件的實際亮度分布，更加準(zhǔn)確地計算EQE。
第二種EQE的測量方法是通過積分球配件，將器件的整體光通量收集，并通過計算得到器件的EQE。該方法又有兩種測量方案，一種是將器件至于積分球球壁上，僅測量器件的前向通量，稱為2π法；一種是將器件置于積分球內(nèi)部，測量器件的整體通量，稱為4π法。我們提供的外量子效率測試系統(tǒng)可以實現(xiàn)更便捷的操作，以及更高的測量精度。
我們提供的量子效率測量系統(tǒng)包括光致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)和電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)。熒光量子效率測量系統(tǒng)可以測量熒光材料的PLQY(熒光量子效率)，用以評估材料的熒光性能；電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)可以測量電致發(fā)光材料的EQE（外量子效率），用來評估不同材料的發(fā)光性能。我們提供的熒光量子效率測量系統(tǒng)和電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)為整機(jī)一體化設(shè)計，集成度高，操作簡便，結(jié)果直觀，方便快捷，在各方面具有的優(yōu)點。
IVL（電流-電壓-亮度）的測量
除了可以實現(xiàn)對EQE精準(zhǔn)測量外，針對電致發(fā)光器件的另一個重要性能電流-電壓-亮度（IVL），我們的電致發(fā)光量子效率測量系統(tǒng)也可以提供一體化、自動化測量的方案。
電流參數(shù)（電流、電流密度等）隨電壓參數(shù)的變化曲線反映了器件的電學(xué)性質(zhì)。亮度隨電壓參數(shù)的變化曲線反映了器件的光學(xué)性質(zhì)。這類電學(xué)和光學(xué)參數(shù)之間的關(guān)系統(tǒng)稱為IVL（電流-電壓-亮度）關(guān)系，對于電致發(fā)光器件也非常重要。
通常情況下，IVL關(guān)系的測量需要多套電學(xué)測量系統(tǒng)和光學(xué)測量系統(tǒng)分別測量，測量全部的參數(shù)非常繁瑣。通過軟件整合電流源和光譜探測器的功能，我們提供的發(fā)光器件測量系統(tǒng)軟件也可以測量電流、電流密度、電壓、電流效率、功率效率、發(fā)射光譜、色度等一系列參數(shù)，并且逐一對應(yīng)，形成關(guān)系曲線，將測量操作化繁為簡。
應(yīng)用領(lǐng)域：
量子點發(fā)光材料，鈣鈦礦發(fā)光材料，有機(jī)發(fā)光材料，AIE材料；
稀土發(fā)光材料，熒光粉，熒光染料，上轉(zhuǎn)換材料等。
PLQY功能測試特點：
- 電動升降臺，穩(wěn)定進(jìn)出樣，讓測量重復(fù)性、重現(xiàn)性更優(yōu)且不容易污染積分球。
- 整機(jī)一體化設(shè)計，光路穩(wěn)定，減少震動對光路帶來的擾動。
- 采用Spectralon®材料積分球，具有高朗伯特性，積分球光穩(wěn)定性更好，抗老化經(jīng)久不衰。
- 0-99%功率可調(diào)單色多通道LED，激發(fā)光更加穩(wěn)定
- 更簡單的操作，簡化手套箱內(nèi)的操作步驟，更快得出測量結(jié)果。
EQE功能測試特點：
- 操作非常簡單，只需培訓(xùn)30-60分鐘即可上手操作。軟件控制多通道切換器，一鍵測試完一片芯片上的所有發(fā)光點。
- 夾具設(shè)計靈活，根據(jù)客戶樣品尺寸和電極定位量身定制夾具。樣品的取放簡單，無需打開積分球，減少積分球污染的概率。
- 儀器可以通過手套箱大倉直接進(jìn)入手套箱內(nèi)，體積適中，安裝方便。
- 一體化整機(jī)設(shè)計，讓測試穩(wěn)定性、重復(fù)性、準(zhǔn)確性更優(yōu)異。
- 器件壽命測量終點可在0-99%L范圍內(nèi)任意設(shè)置，可實時查看器件衰減比率。
相關(guān)知識
熒光指一種光致發(fā)光的冷發(fā)光現(xiàn)象。常溫下，當(dāng)某種物質(zhì)經(jīng)某種波長入射光（通常是紫外線或X射線）照射，吸收光能后進(jìn)入激發(fā)態(tài)，并且立即退激發(fā)并發(fā)出比入射光的波長長的出射光（通常波長在可見光波段）；很多熒光物質(zhì)一旦停止入射光，發(fā)光現(xiàn)象也隨之立即消失。具有這種性質(zhì)的出射光就被稱之為熒光。一般光致發(fā)光是指任何由電磁輻射引起的發(fā)光；而熒光通常是指由紫外引起的，有時也用于其它類型的光致發(fā)光。
電致發(fā)光(電場發(fā)光，EL)是指電流通過物質(zhì)時或物質(zhì)處于強(qiáng)電場下發(fā)光的現(xiàn)象，一般認(rèn)為是在強(qiáng)電場作用下，電子的能量相應(yīng)增大，直至遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過熱平衡狀態(tài)下的電子能量而成為過熱電子，這過熱電子在運(yùn)動過程中可以通過碰撞使晶格離化形成電子、空穴對，當(dāng)這些被離化的電子、空穴對復(fù)合或被激發(fā)的發(fā)光中心回到基態(tài)時便發(fā)出光來。電致發(fā)光又稱場致發(fā)光，電致發(fā)光現(xiàn)象是指電能直接轉(zhuǎn)換為光能的一類發(fā)光現(xiàn)象，它包括注入式電致發(fā)光和本征型電致發(fā)光。
當(dāng)發(fā)光器件通電時，電子和空穴會在發(fā)光層結(jié)合，產(chǎn)生的能量會激發(fā)發(fā)光層材料發(fā)出熒光/磷光，所謂器件的EQE（外量子效率，External Quantum Efficiency），就是此時把單位時間內(nèi)出射到空間的光子數(shù)/單位時間內(nèi)注入到發(fā)光層的電子數(shù)之比，是決定器件封裝以后光效的重要參數(shù)之一，也是真正決定電致發(fā)光器件是否能夠商業(yè)化的重要參數(shù)之一，因此它的表現(xiàn)會受到廣泛的關(guān)注。無論對于顯示器還是照明，從電能轉(zhuǎn)化為光能的發(fā)光效率都非常重要，其主要反映了輸入功率的利用率。發(fā)光效率越高，器件的熱損耗越小，能量利用率越高。
與我們合作過的客戶
華南理工大學(xué)，南方科技大學(xué)，華僑大學(xué)，廈門大學(xué)，武漢大學(xué)，清華大學(xué)，吉林大學(xué)，南京理工大學(xué)，澳門大學(xué)，成都信息工程學(xué)院，中山大學(xué)，暨南大學(xué)，創(chuàng)意動感生活，華中科技大學(xué)，理化技術(shù)研究所，香港科技大學(xué)，西湖大學(xué)，北京理工大學(xué)，，蘇州大學(xué)，等。
我們作為集研發(fā)、生產(chǎn)、服務(wù)于一體的高科技公司，致力于為客戶提供技術(shù)產(chǎn)品和服務(wù)，擁有多年光譜快速檢測經(jīng)驗，擁有多年光譜快速檢測經(jīng)驗，為發(fā)光器材與器件、物理光學(xué)、電致變色材料、化學(xué)化工、環(huán)境科學(xué)，食品科學(xué)，生命科學(xué)等不同領(lǐng)域提供數(shù)以百計的測量方案，尤其在QLFD、OLED、PeLED、MircoLED、LED、量子點發(fā)光材料、熒光粉、光色電測量領(lǐng)域獲得了豐富的案例，以準(zhǔn)為本，客戶思維，科技至上，至誠至堅，合作共贏、建設(shè)高效、快速為一體測量解決方案。
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