雙光束紫外可見分光光度計UV762

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更新時間：2024-02-18 14:00:18瀏覽次數：170次

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產品簡介

關鍵元件采用進口元件，全新的光學系統設計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高

詳細介紹

雙光束紫外可見分光光度計UV762
功能特點：
1、關鍵元件采用進口元件，全新的光學系統設計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。
2、真正的雙光束測光系統，配合的電路測控系統，使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。
3、的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全．
4、雙光束紫外可見分光光度計UV762采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面．
5、優(yōu)良的軟件設計和編制，使儀器有較強光譜數據處理功能：自動掃描測量光譜, 多波長( 1-3λ) 測定、動力學測定、１－３次曲線擬合、１－４階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
6、基于Windows 平臺開發(fā)的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節(jié)省費用。

雙光束紫外可見分光光度計UV762
性能指標：
1、波長范圍：190nm～1100nm
2、光譜帶寬：2nm
3、波長準確度：≤±0.3nm(開機自動校正)
4、波長重復性：≤0.2nm
5、透射比準確度：±0.3%(T)
6、透射比重復性：0.2%(T)
7、透射比測量范圍：0～200%T
8、吸光度測量范圍：-0.301～3.000A
9、雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定)
10、漂移：≤0.002A/H （500nm處）
11、噪聲：99%線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T
12、掃描速度：快中慢