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更新時(shí)間：2022-09-22 11:35:49瀏覽次數(shù)：285次
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W6全譜直讀光譜儀檢測基體：鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基全新立式全譜光譜采用國際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，采用全數(shù)字技術(shù)，替代龐大的光電倍增管（ＰＭＴ）模擬技術(shù)，與國際光譜儀技術(shù)同步，采用真空光學(xué)室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源、ＣＣＤ檢測器，高速數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng)，使儀器具有高的性能、低的檢出線、長期的穩(wěn)定性和重復(fù)性
W6全譜直讀光譜儀
檢測基體：鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基、錫基、銀基
全新立式全譜光譜采用國際標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù)，采用全數(shù)字技術(shù)，替代龐大的光電倍增管（ＰＭＴ）模擬技術(shù)，與國際光譜儀技術(shù)同步，采用真空光學(xué)室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源、ＣＣＤ檢測器，高速數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng)，使儀器具有高的性能、低的檢出線、長期的穩(wěn)定性和重復(fù)性。適用于金屬制造業(yè)、加工業(yè)及金屬冶煉業(yè)用于質(zhì)量監(jiān)控、材料牌號(hào)識(shí)別、材料研究和開發(fā)的主要設(shè)備之一。
主要技術(shù)參數(shù)：光學(xué)系統(tǒng)：帕型）-龍格羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)；
波長范圍：120nm~589nm
焦距：400mm
探測器：高性能CCD陣列
光源類型：數(shù)字光源，高能預(yù)燃技術(shù)（HEPS）
放電頻率：100-1000Hz
放電電流：400A
工作電源：220VAC 50/60Hz
儀器尺寸：650*860*1200
儀器重量：約235kg（不含真空系統(tǒng)）
檢測時(shí)間：依據(jù)樣品類型而定，一般25S左右
電極：鎢材噴射電
光學(xué)恒溫：34℃± 0.3℃
氬氣要求：99.999％
氬氣進(jìn)口壓力：0.5MPa
氬氣流量：激發(fā)流量約3.5L/min
工作溫度：10℃～35℃
工作濕度：20％～85％
分析間隙：真空軟件自動(dòng)控制、監(jiān)測
產(chǎn)品特色
優(yōu)化設(shè)計(jì)的真空光學(xué)系
１、整體光學(xué)室裝置、帕邢-龍格結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，所有譜線集成在羅欄園上。
２、直射式光學(xué)技術(shù)及透鏡ＭｇＦ２材料，保證Ｃ、Ｓ、Ｐ、Ｎ紫外波長的能量。
全數(shù)字激發(fā)光源
全數(shù)字、高能預(yù)燃技術(shù)（HEPS），不同樣品設(shè)置不同的激發(fā)參數(shù)，提高樣品的測量精度和相似性，提高樣品激發(fā)速度，提高火花穩(wěn)定性，使樣品有更好的重現(xiàn)性。
功能性設(shè)計(jì)的激發(fā)裝置
１、集成氣路、噴射電極技術(shù)，開放式銅火花臺(tái)，不僅保證樣品測量精度還能購測量各種復(fù)雜形狀的樣品（含線材）。
２、 單板式透鏡裝置設(shè)計(jì)，一般人員都能方便對激發(fā)臺(tái)進(jìn)行進(jìn)行維護(hù)和透鏡的清洗。
高集成、高速度讀出系統(tǒng)
１、高性能CCD固態(tài)檢測技術(shù)，波段內(nèi)譜線全譜接收。
２、FPGA及高速數(shù)據(jù)通訊技術(shù)，數(shù)據(jù)讀入功能強(qiáng)大，檢測數(shù)據(jù)整體讀入時(shí)間短。
直觀、易操作的分析軟件
１、基于WINDOWS系統(tǒng)的多國語言的ＣＣＤ全譜分析軟件的管理和控制整個(gè)測量過程，為用戶提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力和測試報(bào)告輸出能力。
２、儀器在軟件中配備多條工廠校正曲線及更多材質(zhì)分析及*的解決方案。
３、儀器實(shí)現(xiàn)全譜分析，智能扣干擾，扣暗電流、背景和噪聲的算法，提高了儀器的分析能力。
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