| 測(cè)量殘余奧氏體的含量，對(duì)于熱處理的控制是非常重要的，X射線衍射法（XRD）是可以測(cè)量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法，殘余奧氏體的測(cè)量遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ASTM E975-03規(guī)則。 殘余奧氏體 鋼的硬化過(guò)程是首先加熱到奧氏體相，然后淬火到室溫轉(zhuǎn)變?yōu)橛操|(zhì)的馬氏體相。奧氏體在高溫鋼中呈現(xiàn)面心立方結(jié)構(gòu)（FCC），冷卻時(shí)，鋼體大部分轉(zhuǎn)化為體心立方結(jié)構(gòu)（BCC）的鐵素體，或者轉(zhuǎn)變?yōu)轶w心正方結(jié)構(gòu)（BCT）的馬氏體。根據(jù)冷卻鋼的速率，會(huì)有一部分鋼仍為奧氏體（通常為0-40%），因此稱為殘余奧氏體。 奧氏體的結(jié)構(gòu)比鐵素體還有馬氏體的結(jié)構(gòu)都要大，如果在轉(zhuǎn)變過(guò)程中有殘余奧氏體存在，隨著時(shí)間的延長(zhǎng)，產(chǎn)品中的殘余奧氏體會(huì)轉(zhuǎn)變?yōu)槠渌囿w，這些變化會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品的形狀發(fā)生改變。此外，其他的物理性能，如硬度和強(qiáng)度，都會(huì)隨著不同相體的轉(zhuǎn)變而發(fā)生變化，這些變化最終會(huì)影響到產(chǎn)品的使用壽命。 X射線衍射法來(lái)測(cè)量殘余奧氏體的百分比含量 X射線衍射法可以準(zhǔn)確測(cè)定鋼熱處理后殘余奧氏體的含量，能夠?yàn)殇撹F熱處理過(guò)程控制提供可靠保證，提高產(chǎn)品質(zhì)量。 X射線衍射法是目前為止測(cè)量鋼體中殘余奧氏體含量最準(zhǔn)確的方法。根據(jù)ASTM E975-03的X射線測(cè)量鋼中殘余奧氏體近晶體隨機(jī)取向的標(biāo)準(zhǔn)方法，ARE X這款儀器能夠很輕松檢測(cè)出鋼體中殘余奧氏體的含量。 由于奧氏體相結(jié)構(gòu)與其他相的結(jié)構(gòu)不同，在不同的測(cè)試點(diǎn)，奧氏體會(huì)產(chǎn)生于鐵素體和馬氏體不同的衍射峰值。鋼中相的總數(shù)和與其衍射峰值的強(qiáng)度成正比。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)，殘余奧氏體總的含量與奧氏體峰值的強(qiáng)度和其他相峰值強(qiáng)度比有關(guān)。我們利用X射線衍射儀采集四個(gè)衍射峰值來(lái)確定殘余奧氏體的濃度，兩個(gè)分別是鐵素體和馬氏體，兩個(gè)是奧氏體。通過(guò)四個(gè)峰值強(qiáng)度的對(duì)比可以獲得樣品中殘余奧氏體的百分比含量。 ARE X衍射儀可以測(cè)量奧氏體（220）（311）、鐵素體（200）（211）的衍射峰值強(qiáng)度，并分別提供四個(gè)奧氏體/鐵素體的峰值強(qiáng)度比。通過(guò)多衍射峰測(cè)量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向的帶來(lái)的影響，同時(shí)對(duì)檢測(cè)到的碳化物干擾加以計(jì)算。 樣品制備 標(biāo)準(zhǔn)的金相濕研磨和拋光方法，表面拋光： 由碳化硅或氧化鋁砂紙 600 到 80 目； 表面研磨： 6 到 0.2 μ m 的金剛石或氧化鋁瓷。 ARE X衍射儀技術(shù)參數(shù) | X射線發(fā)生器 | 輸出功率 | 3KW | | 輸出穩(wěn)定性 | <0.01% (電源供給10%的波動(dòng)） | | 輸出電壓 | 60KV | | 輸出電流 | 60mA | | 電壓步寬 | 0.1KV | | 電流步寬 | 0.1mA | | 波動(dòng) | 0.03% rms < 1kHz, 0.75% rms > 1kHz | | 預(yù)熱與電路 | 自動(dòng)預(yù)熱和斜坡控制電路 | | 輸入電壓 | 230 V +/- 10%, 50 或60 Hz, 單相 | | X射線光管 | 光管類型 | 玻璃（可選陶瓷），Mo靶材，細(xì)焦斑（可根據(jù)要求選其他型號(hào)） | | 焦斑尺寸 | 0.4 x 8 mm FF (可選0.4 x 12 mm LFF; 1 x 10 mm NF) | | 準(zhǔn)直 | 單毛細(xì)管準(zhǔn)直器:直徑1 - 2毫米 | | 輸出電壓 | 3KV | | 測(cè)角儀 | 配置 | 垂直測(cè)角儀 | | 掃描角范圍 | 27° < 2θ< 40° | | 角準(zhǔn)確度 | ± 0.001° | | 樣品臺(tái) | 尺寸 | 110 mm x 150 mm | | 探測(cè)器 | 類型 | 高分辨率，帶直接耦合（微米）光纖輸入的X射線數(shù)碼攝像儀和帶制冷CCD | | 機(jī)體 | 尺寸 | 658 mm X1059 mm X762 mm | | X射線泄露量 | < 1 mSv/年 （按照國(guó)際準(zhǔn)則充分安全屏蔽） | | 處理單元 | 計(jì)算機(jī)類型 | 個(gè)人計(jì)算機(jī) | | 控制對(duì)象 | X射線發(fā)生器、探測(cè)器和數(shù)據(jù)庫(kù) | | 基本數(shù)據(jù)處理 | 建立校準(zhǔn)曲線，殘余奧氏體計(jì)算 | 儀器特性 符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)：ASTM E975-03 使用精密的自動(dòng)反饋控制電路獲得的X射線發(fā)生器穩(wěn)定性。 自動(dòng)調(diào)整高電壓與電流輸出脈動(dòng)值。 大功率、優(yōu)質(zhì)的玻璃（陶瓷）X 射線管，電壓可至60KV。 高聚焦單毛細(xì)管準(zhǔn)直器。 2θ角度范圍：27 to 40°。 樣品臺(tái)尺寸：110 mm x 150 mm。 高分辨率CCD探測(cè)器。 采集時(shí)間：小于5分鐘。 雙安全防輻射電路模塊。 自帶校準(zhǔn)。 | 會(huì)員1.png)
