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Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介Zeta納米粒度及Zeta電位儀是全新開發(fā)的測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Zeta納米粒度及Zeta電位儀是全新開發(fā)的測(cè)量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動(dòng)態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù)SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。

二、主要技術(shù)指標(biāo)與性能

粒徑檢測(cè)
粒徑范圍	0.3nm ~ 15μm*
樣品量	3μL*
檢測(cè)角度	90°
分析算法	Cumulants、通用模式、CONTIN
靈敏度	甲苯 > 20kcps
Zeta電位測(cè)試
檢測(cè)角度	12°
Zeta范圍	無實(shí)際限制
電泳遷移率范圍	> ±20μm.cm/V.s
電導(dǎo)率范圍	260mS/cm*
粒徑范圍	2nm ~ 110μm*
樣品量	0.75mL
分子量測(cè)試
分子量范圍	342Da ~ 2 x 107Da*
趨勢(shì)測(cè)量
模式	時(shí)間
粘度測(cè)試
粘度范圍	0.01cp ~ 100cp*
相互作用力因子
kD	無實(shí)際限制
系統(tǒng)參數(shù)
溫控范圍	-10°C ~ 110°C +/- 0.1°C
冷凝控制	干燥空氣或者氮?dú)?/font>
標(biāo)準(zhǔn)激光光源	50mW 高性能固體激光器，671nm
相關(guān)器	4000通道，1011動(dòng)態(tài)線性范圍
檢測(cè)器	APD（高性能雪崩光電二極管）
光強(qiáng)控制	0.0001% ~ 99%，手動(dòng)或者自動(dòng)
尺寸	長寬高 62.5 x 40 x 24.5cm (22 kg)
電源	適配器 100 ~ 240V, 50/60Hz，200W
符合標(biāo)準(zhǔn)	ISO13321， ISO22412，ISO13099-1，ISO13099-2
選配	可拋棄微量樣品池	40μL ~ 50μL
	石英玻璃微量樣品池	25μL ~ 50μL
	石英玻璃圓孔樣品池	1mL ~ 1.5mL
	毛細(xì)管微量池	3μL ~ 5μL
	插入式電極	有機(jī)相體系Zeta電位測(cè)試