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深圳市偉峰儀器儀表有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第14年

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ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀

時(shí)間:2020/5/26閱讀:1087
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ST-20掌上型方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn),專門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新型儀器,可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
 
◆ 特點(diǎn)

1

 采用九十年代推出的大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分,測(cè)量準(zhǔn)確穩(wěn)定

2

 低功耗

3

 采用單個(gè)電池供電,帶電池欠壓指示

4

 儀器體積僅為:130mmX65mm X23mm

5

 特制之手握式探筆,球形探針、鍍金探針有效接觸被測(cè)材料及保護(hù)薄膜

6

 探頭帶抗靜電模塊
 
◆ 技術(shù)指標(biāo):
 

測(cè)量范圍

基本量程:方塊電阻10.0-199.9(Ω/口)
擴(kuò)展量程:方塊電阻100-1999(Ω/口)

測(cè)量不確定度

≤5%

探針規(guī)格

 探針間距:3.8mm;偏差≤2%;游移率≤0.3%;絕緣電阻≥500MΩ

恒流源

 測(cè)量過程誤差:≤±0.8%

電源

 9V疊層電池1節(jié)

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