x射線熒光光譜儀【深圳華普通用科技有限公司(X射線熒光光譜儀:www.hpge。。com.cn/guangpufenxiyi) :,咨詢:】
.公司業(yè)務(wù)分為電子測試儀器部,化學(xué)分析儀器部,材料分析儀器部,電磁兼容測試儀器部以及芯片燒錄設(shè)備部。華普通用與美國安捷倫(Agilent)、美國力科(LECORY) 、美國吉時(shí)利(KEITHLEY) 、美國泰克(Tektronix) 、美國科學(xué)儀器公司STI、美國SerialTek、德國斯派克(SPECTRO) 、瑞士特測(TESEQ) 、中國臺灣崇貿(mào)(System General) 、以色列HERMON Labs、西班牙ALBEDO ecom SL、日本TAKAYA、澳大利亞CLUSO等數(shù)十家*儀器制造商在中國區(qū)有著廣泛的合作。x射線熒光光譜儀
產(chǎn)品介紹:
SPECTRO iQ II采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結(jié)果業(yè)界.先。
SPECTRO iQ II無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢,都會提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測的需求。
SPECTRO iQ II微移動平臺和高清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)在殼體外部,觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
SPECTRO iQ II不受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度,測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。
樣品移動設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié),多點(diǎn)測試時(shí)移動樣品方便快捷,有助于提升效率。
設(shè)計(jì)更科學(xué),軟硬件配合,機(jī)電聯(lián)動,輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測試的記錄報(bào)告同時(shí)自動添加測試人的登錄名稱。
產(chǎn)品指標(biāo):
測厚技術(shù):X射線熒光測厚技術(shù)
測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測量下限:0.003um
測量上限:30-50um(以材料元素判定)
測量層數(shù):10層
測量用時(shí):30-120秒
探測器類型:Si-PIN電制冷
探測器分辨率:145eV
高壓范圍:0-50Kv,50W
X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:3種自動切換;
CCD觀察:260萬像素
微移動范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準(zhǔn)直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
標(biāo)準(zhǔn)配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜:100張
保險(xiǎn)管:3支
計(jì)算機(jī)主機(jī):品牌+雙核
顯示屏:19吋液晶
打印機(jī):噴墨打印機(jī)
可選配件
可升級為SDD探測器
可以實(shí)現(xiàn)全自動一鍵操作功能,準(zhǔn)直器自動切換,濾光片自動切換,開蓋隨意自動停,樣品測試照片自動拍照、自動保存,測試報(bào)告自動彈出,供應(yīng)商信息自動篩選和保存