二·前言
*，納米材料科學(xué)與工程已經(jīng)成為世界性的研究熱點(diǎn)，在研究納米材料的表面改性時(shí)，往往要涉及潤(rùn)濕接觸角這個(gè)概念。所謂接觸角是指在一固體水平平面上滴一液滴，固體表面上的固－液－氣三相交界點(diǎn)處，其氣－液界面和固－液界面兩切線把液相夾在其中時(shí)所成的角。
表面能是創(chuàng)造物質(zhì)表面時(shí)對(duì)分子間化學(xué)鍵破壞的度量。在固體物理理論中，表面原子比物質(zhì)內(nèi)部的原子具有更多的能量，因此，根據(jù)能量zui低原理，原子會(huì)自發(fā)的趨于物質(zhì)內(nèi)部而不是表面。表面能的另一種定義是，材料表面相對(duì)于材料內(nèi)部所多出的能量。
液體表面任意二相鄰部分之間垂直于它們的單位長(zhǎng)度分界線相互作用的拉力。表面張力的形成同處在液體表面薄層內(nèi)的分子的特殊受力狀態(tài)密切相關(guān)。表面張力的存在形成了一系列日常生活中可以觀察到的特殊現(xiàn)象。
三·儀器應(yīng)用領(lǐng)域
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
四·儀器介紹
本公司儀器采用現(xiàn)代化工藝制造，儀器采用*的CCD數(shù)字?jǐn)z像機(jī)，配倍高分辨率變焦式顯微鏡和高亮度LED背景光源系統(tǒng)，搭配三維樣品臺(tái)，可進(jìn)行工作臺(tái)上下、左右、前后等方向移動(dòng)。實(shí)現(xiàn)微量進(jìn)樣及上下、左右精密移動(dòng)。同時(shí)還設(shè)計(jì)了伸縮桿結(jié)構(gòu)工作臺(tái)，能適應(yīng)在不同用戶材料厚度加大的場(chǎng)合。儀器框架可以根據(jù)式樣的大小適量調(diào)節(jié)，擴(kuò)大了儀器的使用范圍。軟件搭配修正功能，測(cè)試多次后的結(jié)果可以同時(shí)保存在同一報(bào)告下，能讓用戶更好的對(duì)材料數(shù)據(jù)進(jìn)行管控。該儀器設(shè)計(jì)美觀大方、操作簡(jiǎn)單、符合用戶所需。適用于各種行業(yè)測(cè)定接觸角的用戶
五·提升品管的要求:
光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x:是一種簡(jiǎn)單、快速、靈敏的方法測(cè)量固體表面的潤(rùn)濕性。且可間接測(cè)量固體表面能與液體表面張力。以下為測(cè)試方法比較表:
測(cè)試方法 | 優(yōu)點(diǎn) | 缺點(diǎn) |
光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x | 1.水滴角度可量化且明確 2.均勻性測(cè)量 3.誤差值小 | 成本稍高 |
表面達(dá)因測(cè)試劑 | 成本低 | 誤差大，且多次測(cè)試后影響準(zhǔn)確性，僅知有無過標(biāo)準(zhǔn) |
原子力顯微鏡AFM | 測(cè)量極細(xì)微(原子表面、奈 米結(jié)構(gòu)) | 成本高，成像小、速度慢，探頭容易損傷 |
六·產(chǎn)品特點(diǎn)
S 可調(diào)單波長(zhǎng)工業(yè)級(jí)LED光源；圖像更加清晰；使用壽命可達(dá)15000H以上
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->
七·儀器參數(shù)
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->接觸角測(cè)量范圍
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->接觸角測(cè)量精度
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->高精度滴液系統(tǒng)
<!--[if !supportLists]--><!--[endif]-->接觸角高精密儀器校準(zhǔn)片
<!--[if !supportLists]-->S <!--[endif]--> 
<!--[if !vml]-->
<!--[endif]-->座滴法（sessile drop）;
<!--[if !supportLists]-->S <!--[endif]--> 
<!--[if !vml]-->
<!--[endif]-->薄膜法（lamella method）;
<!--[if !supportLists]-->S <!--[endif]--> 
<!--[if !vml]-->
<!--[endif]-->擄泡法（Captive bubble method）;
<!--[if !supportLists]-->S <!--[endif]--> 
<!--[if !vml]-->
<!--[endif]-->包覆纖維法（wetted fiber）;
<!--[if !supportLists]-->S <!--[endif]--> 
<!--[if !vml]-->
<!--[endif]-->纖維座滴法（sessle fiber drop）;
