超聲波試塊CSK-IIIA試塊
測試方法:根據(jù)被檢工件厚度及標(biāo)準(zhǔn)要求,選擇一組合適的試塊。將已測試好的直探頭置于示意圖所示檢測面上,依次測試一組不同檢測距離的φ2mm或φ3mm或φ4mm平底孔(至少3個),制作直探頭距離-波幅曲線,并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。在此基礎(chǔ)上增益6dB作為掃查靈敏度。
測試方法:依據(jù)檢測試件的厚度及標(biāo)準(zhǔn)要求選擇合適的試塊,將選用已校驗(yàn)好的雙晶探頭置于示意圖中a位置,前后左右移動探頭使直射聲束在平底孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值。探頭置于示意圖中b位置,前后左右移動探頭使直射聲束在平底孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置,前后左右移動探頭使直射聲束在平底孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度,記錄此時的dB值,此為第三點(diǎn),以此類推直至范圍可*覆蓋檢測厚度(至少測試三點(diǎn)),并將以上各點(diǎn)連成一條曲線,此曲線即為雙晶直探頭距離-波幅曲線,并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。在此基礎(chǔ)上增益6dB作為掃查靈敏度。