功率半導(dǎo)體IGBT安全工作區(qū)測試儀
產(chǎn)品系列
晶體管圖示儀
半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)
靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)
動態(tài)參數(shù)測試(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)
環(huán)境老化測試(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)
熱特性測試(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件
♦產(chǎn)品簡述
功率半導(dǎo)體IGBT安全工作區(qū)測試儀 系列產(chǎn)品是主要針對 半導(dǎo)體功率器件的動態(tài)參數(shù)測試 而開發(fā)設(shè)計。通過DUT適配器的轉(zhuǎn)換,可測試各類封裝外觀的 IGBTs,MOSFETs,DIODEs等功率器件,包括器件、模塊、DBC襯板以及晶圓。產(chǎn)品功能模塊化設(shè)計,根據(jù)用戶需求匹配功能單元。測試功能單元有DPT(雙脈沖測試 Double Pulse Testing,以下簡稱DPT。包含開通特性、關(guān)斷特性、反向恢復(fù)特性)柵電荷、短路、雪崩、結(jié)電容、柵電阻、反偏安全工作區(qū)等。測試方案*符合IEC60747-9標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品功能及輸出功率進(jìn)行了模塊化設(shè)計,滿足用戶潛在的后期需求,*高測試電壓電流可擴(kuò)展至10KV/10KA,變溫測試支持常溫到200℃,支持生產(chǎn)線批量化全自動測試。
♦產(chǎn)品特點
? 測試系統(tǒng)電壓以1500V為一個模塊,電流以2000A為一個模塊,可擴(kuò)展至10KA/10KV
? 內(nèi)置7顆標(biāo)準(zhǔn)電感負(fù)載可選用, 另有外接負(fù)載接口,可實現(xiàn)不同電感和電阻負(fù)載測試需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)
? 另有程控式電感箱可供選擇
? 針對不同結(jié)構(gòu)的封裝外觀,通過更換 DUT適配器即可
? 可進(jìn)行室溫到200℃的變溫測試,也可實現(xiàn)子單元測試功能
? 測試軟件具有實驗?zāi)J胶蜕a(chǎn)模式,測試數(shù)據(jù)可存儲為Excel文件
? 門極電阻可任意調(diào)整, 系統(tǒng)內(nèi)部寄生電感為*小至50nH
? 系統(tǒng)測試性能穩(wěn)定,適合大規(guī)模生產(chǎn)測試應(yīng)用(24hr 工作)
? 安全穩(wěn)定(PLC 對設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實時監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖)