日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀PSA
產(chǎn)品概要
- 這是一種可通過陽離子評估亞納米級尺寸(原子水平)微小缺陷和空洞的方法。
- 陽離子壽命測量方法是一種能夠使用陽離子評估亞納米級(原子級)微小缺陷和空隙的方法。?
該設備的應用示例
- 噴丸質量檢查
- 金屬疲勞損傷評估
適用對象
- 各種金屬,例如鋼,鋁和鈦
- 非晶態(tài)材料,例如玻璃和聚合物
- 測量深度距表面(鋼鐵材料)約50μm
*與工業(yè)技術研究院共同開發(fā)?
正電子壽命法原理
圖1是從正電子進入金屬材料到??消失的示意圖。
正電子壽命測量方法是一種精que地測量在產(chǎn)生陽離子時發(fā)射的γ射線與在一對電子消失時產(chǎn)生的γ射線之間的時間差(正電子壽命)的技術。
隨著材料中孔隙缺陷的增多和位錯密度的提高,正電子壽命會增加。
人性化的測量系統(tǒng)
- 反巧合(AC)系統(tǒng)
我們已經(jīng)開發(fā)了一種反巧合(AC)系統(tǒng),該系統(tǒng)可區(qū)分發(fā)射到樣品另一側的正電子信號。1) (圖1)
通過采用交流系統(tǒng),可以在不將輻射源與測量樣品夾在中間的情況下測量正電子壽命。因此,即使只有一個測試件,也可以進行測量。此外,它可以安全使用,而無需麻煩地處理輻射源。
1) M.Yawakiki等人JJAP 50(2011)086301
- 自動設置系統(tǒng)自動
配置程序中測量所需的設置。設置完成后,可以立即開始測量,并且可以自動執(zhí)行粗略分析。?
- 請使用低于規(guī)定值的密封放射源。請使用低于
放射線危害防止法規(guī)定的規(guī)定值的放射源。該設備可以在一般實驗室中使用,不需要資格認證。
日本東洋精工toyoseiko氣正電子壽命測量儀PSA
通用規(guī)格
正電子源 | Na-22(?1 MBq) |
計數(shù)率 | 約100 cps |
測量范圍 | 40 ns(與金屬,半導體和聚合物兼容) |
配飾 | ? HDO4024(Teledyne LeCroy制造的DSO), (HDO4024尺寸W400 x L132 x H292 [mm]) ·程序 ·筆記本電腦等。 |