該產(chǎn)品采用雙光束激光粒度儀ZL(號(hào):ZL.2007 2 0025702. 0),不僅克服了樣品池的光學(xué)干擾,還擴(kuò)大了測(cè)試角度,開(kāi)拓了寬分布顆粒測(cè)試的新領(lǐng)域。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1-大量程/雙光束測(cè)試
采用雙激光雙光束技術(shù)(號(hào):ZL.2007 2 0025702. 0),測(cè)試上限1000微米,測(cè)試下限0.01微米。
2-濕法顆粒循環(huán)裝置/光路自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)
可保證顆粒一直處于動(dòng)態(tài)分散狀態(tài),大顆粒不沉淀,小顆粒不團(tuán)聚,粒度分析不受任何函數(shù)影響,能真實(shí)反應(yīng)顆粒狀態(tài),為測(cè)試獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)提供了保障。
主要適用于
固體粉末或乳液中顆粒、水泥、陶瓷原料、醫(yī)藥原料、乳液、精細(xì)化工、涂料、染料、顏料、填料、燃料、催化劑、感光材料、添加劑類、泥漿、磨料、潤(rùn)滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、石墨、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉狀材料的粒度分析。