ELIAS-WAVEMETER
發(fā)射譜線分析光譜儀系列
ELIAS I 固定用于193nm波長的光譜分析的型的中階梯光柵光譜儀，在利特羅（Littrow）結構中擁有的光譜解析能力-用于高分辨率的發(fā)射和吸收譜線的分析，尤其是準分子激光光刻技術。
· Intensity dynamics of up to 4 orders
· 光譜解析能力 (2.5 million-10 million)
· *成像質量
· 簡單易操作
· Motorized optomechanics
ELIAS的超高分辨率得益于超大中階梯光柵的應用及與之匹配的光路設計——中階梯光柵通過非常高的衍射級次可獲得*的理論分辨率（femtometer level）；LTB的工程師通過兩個方面的設計實現(xiàn)超大中階梯光柵的理論分辨率：
· 逼近衍射極限的消色差成像光路
· 足夠高的線色散來確保以5~10個像素（CCD）來解析光譜譜線的半高寬；
ELIAS利用寬達360mm的超大中階梯光柵（Echelle grating）以利特羅（Littow）自準直結構構成光路；ELIAS不同于靠干涉方式測量光譜的分析設備，ELIAS的中階梯光柵的高衍射級次及高級次等效于零級的衍射能量分布，可通過CCD實現(xiàn)寬光譜直拍，因此ELIAS非常適合脈沖激光光譜的分析應用（通過外部TTL觸發(fā)可協(xié)同激光器工作）。ELIAS可以配置背照型科學級CCD作為探測器可獲得非常理想的信噪比（104）
規(guī)格參數(shù)（Specifications）
| 可探測信號模式 | CW/Pulsed |
可探測光譜范圍 | 190~1100nm(157nm possible) |
光譜解析能力(λ/?λ) | 8,800,000 |
光譜分辨率 | 22fm@193nm |
| 光譜精度 | 0.1pm |
| 光譜窗口 | >0.8nm |
| 可探測脈沖能量 | <10μJ |
信號輸入模式 | Fiber，SMA，Mirror，F(xiàn)ree Space |
校準方式 | full auto/Manual；Hg（Neon）Lamp |
觸發(fā)模式 | TTL+5V |
| 工作環(huán)境要求 | 溫度：10~30℃；濕度：<65% |
ELIAS WAVEMETER :ELIAS I固定用于193nm波長的光譜分析的型號
| Model | ELIAS WAVEMETER |
|---|---|
| Wavelength [nm] | λsimul [pm] |
| 193 | 50 |
| Wavelength [nm] | FWHM [pm] |
| 193 | 0.34 |
應用領域（Application）
· 激光誘導擊穿光譜（LIBS）
· 準分子激光光刻技術
· 測量二極管激光器的光譜、時間穩(wěn)定度和固態(tài)激光器的發(fā)射譜線
