功率金屬氧化物場效應管 | 1 | 漏源間反向擊穿電壓 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3407.1 | 只測: -3.5kV~3.5kV |
半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 3407 | 只測: -3.5kV~3.5kV | |||
2 | 通態(tài)電阻 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3421.1 | 只測: 0~10k?,,0~1500A | |
3 | 閾值電壓 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3404 | 只測: -10V~10V | |
4 | 漏極反向電流 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3415.1 | 只測: -100mA~100mA | |
5 | 柵極漏電流 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3411.1 | 只測: -100mA~101mA | |
6 | 體二極管壓降 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 4011.4 | 只測: 0A~1500A | |
7 | 跨導 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3475.2 | 只測: 1ms~1000s | |
8 | 開關時間 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3472.2 | 只測: VD:5V~3.3kV, ID:100mA~1500A | |
9 | 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 3472 | 只測: VD:5V~3.3kV, ID:100mA~1500A | ||
10 | 體二極管反向恢復時間 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3473.1 | 只測: 10ns~2µs | |
11 | 體二極管反向恢復電荷 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3473.1 | 只測: 1nC~100µC | |
12 | 柵極電荷 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3471.3 | 只測: Qg:0.5nC~500nC | |
13 | 單脈沖雪崩能量 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3470.2 | 只測: L:0.01mH~159.9mH, Ias:0.1A~1500A | |
14 | 柵極串聯等效電阻 | 功率MOSFET柵極串聯等效電阻測試方法 JESD24-11:1996(R2002) | 只測: 0.1Ω~50Ω | |
15 | 穩(wěn)態(tài)熱阻 | 半導體測試方法測試標準 MIL-STD-750F:2012 3161.1 | 只測: Ph:0.1W~250W | |
16 | 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 3161 | 只測: Ph:0.1W~250W | ||
17 | 輸入電容 | 半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管 IEC 60747-8:2010 6.3.10 | 只測: -3kV~3kV,0~1MHz | |
18 | 輸出電容 | 半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管 IEC 60747-8:2010 6.3.11 | 只測: -3kV~3kV,0~1MHz | |
19 | 反向傳輸電容 | 半導體器件 分立器件 第8部分:場效應晶體管 IEC 60747-8:2010 6.3.12 | 只測: -3kV~3kV,0~1MHz | |
20 | 老煉試驗 | 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 1042 | 只測: 條件A、條件B, Vdsmax:3500V, Tjmax:200℃ | |
21 | 溫度,反偏和操作壽命試驗 JESD22-A108F:2017 | 只測: HTRB和HTGB試驗 | ||
22 | 間歇功率試驗 | 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 1042 | 只測: 條件D(間歇功率) | |
23 | 穩(wěn)態(tài)功率試驗 | 半導體分立器件試驗方法 GJB 128A-1997 1042 |
西安長禾半導體技術有限公司功率器件測試實驗室(簡稱長禾實驗室)位于西安市*經濟開發(fā)區(qū),是一家從事功率半導體器件測試服務的,是CNAS 認可實驗室,屬于大功率器件測試服務中心。
長禾實驗室擁有的系統設備的技術團隊和完善的服務體系。實驗室現有的測試儀器設備100余臺套測試人員20余名。我們緊跟國際國內標準,以客戶需求為導向,不斷創(chuàng)新服務項目和檢測技術,借助便利的服務網絡,為合作伙伴提供的技術服務。
長禾實驗室專注于功率半導體器件的動、靜態(tài)參數檢測、可靠性檢測、失效分析、溫循試驗、熱阻測試等領域的技術服務。業(yè)務范圍主要涉及國內軌道交通、風力發(fā)電、科研單位院所、工業(yè)控制船舶、航空航天、新能源汽車等行業(yè)。也是第三代半導體(寬禁帶半導體)應用解決方案服務商。
長禾實驗室秉承創(chuàng)新務實的經營理念,為客戶提供的服務、完善的解決方案及的技術支持;同時注重與行業(yè)企業(yè)、高校和科研院所的合作與交流,測試技術與服務水平不斷提升。
大功率半導體元器件檢測服務
IGBT開關時間損耗參數測試服務 產品信息