Z-200 C+ 是能夠分析碳素鋼和不銹鋼中碳含量的手持式分析儀。 Z-200 C+ 采用激光誘導(dǎo)擊穿光譜技術(shù)(HH-LIBS),使用波長為1064納米,頻率為50HZ的脈沖激光,,每束脈沖激光功率為5.5毫焦耳。內(nèi)置分光儀,分析波譜范圍為:190納米-620納米。使用內(nèi)置氬氣。*低可檢測出0.015%的C。
軟件特性
測碳分析軟件包介紹:
l 不銹鋼C含量檢測專業(yè)分析曲線;可檢測的元素包括:C, Si, Al, Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Nb, Mo, Se, W.
l 鐵基合金C含量檢測專業(yè)分析曲線; 可檢測的元素包括:C, Si, Al, Ti,V, Cr, Mn, (不同含量Fe ), Co, Ni, Cu, Nb, Mo, W, Pb.
l C 含量標(biāo)配的檢測范圍 0-1%. 并提供擴(kuò)展功能和建模軟件ProfileBuilder 可在臺式電腦或是平板電腦上運行,通過ProfileBuilder當(dāng)C含量高于1%時候用戶可以自建針對高含量C的分析曲線。
l 碳當(dāng)量公式和計算(CE) , Mn:C比例及剩余元素總量
l 碳含量校驗校準(zhǔn)樣品和譜線漂移校正樣品.
任何現(xiàn)有的Z-200型都可以升級到Z-200 C或Z-200 C+。
性能概要
Z-200 C+ 能測不銹鋼和低合金鋼(LAS)中的低C,也能測量鑄鐵中的高C。 測試精度高達(dá)±0.005%,測試時間短,完成一個樣品測試需約10-20秒。 即使區(qū)分C含量差異為0.1%的碳鋼牌號,也只需10秒或更短的時間。詳細(xì)的性能參見下表。
技術(shù)規(guī)格 | |
重量 | 1.82kg帶電池 |
尺寸 | 21*30*12(cm) |
激發(fā)源 | 5-6 mj/脈沖,50赫茲重復(fù)頻率,1064 nm激光源 |
光譜/范圍 | 多CCD光譜儀:190 nm - 950 nm。 |
可用的應(yīng)用程序 | Alloy Mode / Empirical mode/ Profile Builder/ Element Pro Mode |
光譜數(shù)據(jù)采集 | 在無門或門禁操作中收集的頻譜數(shù)據(jù),用戶可設(shè)置的門控延遲 |
操作/氬氣凈化 | 在氬凈化環(huán)境中操作的用戶可更換的氬氣瓶。氬罐在更換前提供大約600個測試。 |
分析范圍 | 全元素分析 |
激光光柵 | 將激光對準(zhǔn)需檢測位置進(jìn)行定向分析。光柵圖形16 x 16網(wǎng)格,256個位置。 |
電子信號處理 | ARM Cortex-A9雙核/1.2 GHz內(nèi)存:1 GB DDR2內(nèi)存,1 GB內(nèi)存 |
自動對焦 | 計算機控制手動或自動調(diào)整激光聚焦樣本位置 |
供電 | 可充電鋰電池,交流電源。 |
顯示 | 5"彩色觸摸屏智能手機顯示屏-PowerVR SGX540 3D圖形 |
數(shù)據(jù)存儲 | 8 GB SD |
通訊-數(shù)據(jù)傳輸 | Wifi,藍(lán)牙,USB。能連接到大多數(shù)設(shè)備,包括SciAps ProfileBuilder PC軟件。 |
樣品查看 | 在分析過程中,通過機載攝像機錄制樣本測試的視頻或圖片 |
校準(zhǔn)檢查 | 通過測試材料為316不銹鋼的內(nèi)部快門,完成自動校準(zhǔn)和波長刻度驗證 |
漂移修正 | 只有對精度要求比較高的測試需要運行漂移修正功能 。通過測試工廠提供的標(biāo)件自動完成漂移校正 |
合金號庫 | 包含500多個合金 。用戶可以 運行ProfileBuilder軟件自行添加合金。 |
安全 | 密碼保護(hù) |
標(biāo)準(zhǔn)配件 | 防水外殼,2鋰離子電池,充電器,USB線,標(biāo)準(zhǔn)用于導(dǎo)入的ProfileBuilder軟件,編輯合金級庫(合金應(yīng)用),查看,保存結(jié)果,數(shù)據(jù)顯示。腕帶,工廠啟動培訓(xùn)支持,軟件 |