特性
- 高精度測(cè)量多層金屬鍍層的厚度(庫(kù)侖法)
- 根據(jù)DIN EN ISO 2177進(jìn)行測(cè)量
- 通過(guò)彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作
- 可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)
- 針對(duì)不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測(cè)量應(yīng)用
- 測(cè)量單元上電壓曲線的圖形顯示
- 圖形和統(tǒng)計(jì)評(píng)估
- 帶支撐架的部分自動(dòng)化測(cè)量，適用于各種樣品尺寸
- 全面的配件組合，以適應(yīng)特定的要求
COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能
- 同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
- 根據(jù)ASTM B764 - 04和DIN EN 16866進(jìn)行電位差測(cè)試
- 銀參比電極測(cè)量前的準(zhǔn)備工作(產(chǎn)生必要的AgCl層)
- 電解電流可調(diào)整
- 可直接在測(cè)厚儀顯示器上評(píng)估電位曲線
應(yīng)用
- 電鍍生產(chǎn)過(guò)程中的監(jiān)控和成品的進(jìn)廠檢驗(yàn)
- 可以精確測(cè)量多種金屬鍍層的厚度0.05–50µm(根據(jù)材料不同)
- 金屬和非金屬基材上單層和多層鍍層厚度的測(cè)量
- 多鍍層體系：例如在鐵或塑料基體(ABS)上鍍鉻/鎳/銅等多層鍍層
- 雙鍍層體系：例如銀或銅上面鍍錫或鍍鎳
- 單鍍層如鐵上鍍鋅
COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應(yīng)用
- STEP測(cè)試：在銅、鐵、鋁或塑料襯底(ABS)上的多層鎳層系統(tǒng)
用于質(zhì)量控制的庫(kù)侖法鍍層厚度測(cè)量
在一定的厚度以上，X射線熒光對(duì)鍍層的無(wú)損測(cè)量達(dá)到了極限，這就是COULOSCOPE®CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫(kù)侖法測(cè)量多種金屬鍍層的厚度，這是做相當(dāng)簡(jiǎn)單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準(zhǔn)確地測(cè)量許多常見(jiàn)的單層和多層鍍層。
庫(kù)侖法的成本效益高，可精確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測(cè)量方法。它為您提供了的靈活性，因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中，以及用于監(jiān)測(cè)印刷電路板上的殘余純錫厚度。
STEP測(cè)試:庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度和多層鎳的電化學(xué)電位測(cè)量
如果你想在使用庫(kù)侖法測(cè)量鍍層厚度的同時(shí)測(cè)量電化學(xué)電勢(shì)，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測(cè)試方法可以同時(shí)測(cè)量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度，非常適合測(cè)定這些鍍層的腐蝕行為。
