一、設(shè)備基本技術(shù)指標(biāo)
名稱:小型高溫反偏試驗系統(tǒng)
設(shè)備型號:AS-HTRB-C8
內(nèi)箱尺寸W×H×D mm:450×450×450
外箱尺寸W×H×D mm:720×1620×1320
內(nèi)箱容積 :91L
溫度范圍:RT+10~+200℃
溫度波動度:±2℃ ≤100℃時;±3℃ ≤150℃時;
短路保護(hù):板上裝有速熔陶瓷保險絲,當(dāng)被試器件短路時,保險絲熔斷保護(hù)。
使用范圍:各種封裝的二極管、三極管、SCR、MOSFET、IGBT等高溫反偏試驗。
試驗線路及試驗方法滿足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。
制熱與溫度循環(huán)系統(tǒng):
加熱裝置:長壽命鎳鉻合金電熱絲式加熱器
加熱方式:無觸點等周期脈沖調(diào)寬,平衡式調(diào)溫 P.I.D + P.W.M + S.S.R
導(dǎo)風(fēng)板設(shè)計:可調(diào)式導(dǎo)風(fēng)板設(shè)計,有效提升溫、濕度分布均勻性.
循環(huán)裝置:采用防潮兼散熱設(shè)計,不銹鋼加長軸心回圈馬達(dá)
循環(huán)風(fēng)輪:耐高低溫鋁合金多翼式回圈扇輪
出風(fēng)循環(huán):風(fēng)循環(huán)方向可根據(jù)模塊的擺放方向設(shè)計,以保證試樣處于溫度均勻區(qū)
二、試驗?zāi)芰?/span>
試驗?zāi)芰?電壓2000V,試驗溫度175℃。
通道分區(qū):8個老化試驗通道,4個獨(dú)立直流電源。一組電源對應(yīng)2個試驗通道,整機(jī)可同時試驗4個不同 規(guī)格的器件。(電源可選)
滿載容量:80顆/每通道×8通道=640顆。(數(shù)量,具體放置數(shù)量和封裝有關(guān))
插板骨架:材料:304不銹鋼板材料,高溫下長時間工作不生銹;