Specim發(fā)布中波紅外高光譜成像儀-FX50
芬蘭時(shí)間4月1日上午9點(diǎn)(北京時(shí)間4月1日下午15點(diǎn)),Specim正式發(fā)布適用于工業(yè)機(jī)器視覺領(lǐng)域的中波紅外高光譜成像儀——FX50。
該款產(chǎn)品的特點(diǎn)是,選用中波紅外(MWIR)區(qū)域,可用于識別和分類難處理的黑色塑料,分析碳?xì)浠衔锖偷V物,快速、可靠地檢測金屬表面的污染,提高準(zhǔn)確性,降低成本。因此一經(jīng)問世,便以高速、精確、高效的特點(diǎn),引起了廣泛關(guān)注。
l優(yōu)勢
?市場上超緊湊和堅(jiān)固的MWIR高光譜相機(jī)
?對黑色材料進(jìn)行分類識別的可靠方法
?也可識別黑色ABS塑料,因?yàn)樗墓庾V區(qū)域可以延伸到5300 nm
?為油氣和礦探生產(chǎn)過程中分析暗色樣品中礦物和碳?xì)浠衔锾峁┝诵碌募夹g(shù)手段
?由于其在MWIR范圍的強(qiáng)光譜特征,能夠檢測低濃度雜質(zhì)
l靈活性
相機(jī)覆蓋范圍內(nèi)150個(gè)波段可自由選擇
三種鏡頭可供選擇,以滿足不同帶寬需求
l快速的光學(xué)設(shè)計(jì)
高靈敏度:能夠在較短積分時(shí)間內(nèi)提供良好的信號
l集成方案
?易于集成和更新現(xiàn)有系統(tǒng)(GigE接口)
?兼容商業(yè)機(jī)器視覺軟件工具
?可用Specim SDK和ASCII控制協(xié)議集成到現(xiàn)有軟件解決方案中
?可用MWIR光源
應(yīng)用領(lǐng)域 | 技術(shù)參數(shù) | |
光譜范圍 | 2.7-5.3μm | |
光譜波段 | 152(2-bin) | |
光譜采樣(FWHM)/FWHM | 8.44nm/35nm | |
空間采樣 | 640px | |
幀率 | 380FPS(全光譜&空間數(shù)據(jù)) 更高的光譜ROI | |
視場角 | 24°、45°、60° | |
F值 | F/2.0 | |
相機(jī)接口 | GigE(觸發(fā)輸入) | |
尺寸 | 280×202×169mm | |
重量 | 7Kg |