我公司推出OLED光譜性能測(cè)試系統(tǒng),OLED發(fā)射光譜測(cè)量系統(tǒng),OLED光譜分析儀,OLED光電性能測(cè)試系統(tǒng)(IVL曲線(xiàn),外量子效率EQE),OLED載流子遷移率測(cè)量系統(tǒng)、光電性能評(píng)估系統(tǒng)以及軟件模擬研發(fā)系統(tǒng),為廣大科研工作者和研發(fā)機(jī)構(gòu)提供了有效的測(cè)試工具。
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應(yīng)用:
有機(jī)發(fā)光器件OLED
量子點(diǎn)LED
鈣鈦礦LED等
主要測(cè)試功能:
OLED效率測(cè)量/EQE測(cè)量,功率效率Lm/W 和電流效率 Cd/A;
發(fā)射角度-光譜測(cè)量;
光譜&顏色測(cè)量@發(fā)射角;
CIE xyY和顯色指數(shù)CRI;
可視角測(cè)量;
IVL(電流—電壓—亮度)測(cè)量;
PL光致發(fā)光和EL電致發(fā)光測(cè)量;
p,s極性測(cè)量;
主要技術(shù)規(guī)格:
角度范圍:-85°~+85°;
光譜范圍:360nm~880nm,分辨率1.2nm;