日立掃描電子顯微鏡
SU3500
- 低加速電壓觀察時分辨率更高，可更好地觀察樣品最表面的細微形狀和更有效地降低樣品的損壞
- 全新設計的電子光學系統(tǒng)和信號處理技術實現(xiàn)了高速掃描和低噪音的觀察
- 和以前的常規(guī)掃描電子顯微鏡相比＊2自動功能縮短＊3了大約11秒
- 具有在低真空時可以非常好地觀察樣品最表面的細微形狀的“UVD(超高靈敏度可變壓力探測器)”＊4
- 具有實現(xiàn)了實時立體成像的“實時立體觀察功能”
場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）
- 沿用"SU8200系列"的冷場發(fā)射電子槍*2
- 采用電子束在Flashing后出現(xiàn)的高亮度穩(wěn)定區(qū)域作為穩(wěn)定觀察的區(qū)間，使得低加速電壓條件下兼?zhèn)涓叻直嬗^察和分析的性能
(Regulus8240/8230/8220: 0.7 nm/1 kV、Regulus8100: 0.8 nm/1 kV) - 采用污染小、高真空樣品倉
- 運用能量過濾器(選配)，可觀察到多種成分對比度*2
