發(fā)光體,如白熾燈、熒光燈、LED 等輻射光譜及發(fā)光特性的測試,對研究其特性有很大幫助。系統(tǒng)不僅可測量光源或其他發(fā)射光譜分布,而且可在此基礎(chǔ)上得到積分輻射通量、光通量、色坐標(biāo)等。
針對不同輻射光源的特性,可靈活選擇測試系統(tǒng),如:寬帶光源和LED 通常分辨率要求不高,建議使用SGM100 或短焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀;激光器、放電燈、等離子體、原子發(fā)射光譜等分辨率要求高,建議使用長焦距“譜王”、“影像譜王”系列光譜儀/ 單色儀;寬波長范圍(UV ~ IR),建議采用雙出口單色儀接兩個探測器;測試寬光譜范圍的發(fā)光體,需要采用SD 濾光片輪消多級光譜。
發(fā)射光譜測量系統(tǒng)組成:分光系統(tǒng)+檢測系統(tǒng)+數(shù)據(jù)采集及處理系統(tǒng)+軟件系統(tǒng)+計算機系統(tǒng)
OmniES-掃描型發(fā)射光譜測量系統(tǒng)
OmniES-攝譜型發(fā)射光譜測量系統(tǒng)