產(chǎn)品簡介:SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀??赏ㄟ^橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量,快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析,適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度,微光斑,可視化調(diào)平系統(tǒng)等高兼容性靈活配置,多功能模塊定制化設(shè)計。
高精度橢偏測量解決方案;超高精度、快速無損測量;支持多角度、微光斑、可視化調(diào)平系統(tǒng)功能模塊靈活定制;豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,保證強(qiáng)大數(shù)據(jù)分析能力。
廣泛應(yīng)用于鍍膜工藝控制、tooling校正等測量應(yīng)用,實現(xiàn)光學(xué)薄膜、納米結(jié)構(gòu)的光學(xué)常數(shù)和幾何特征尺寸快速的表征分析。
產(chǎn)品型號 | SE-VM光譜橢偏儀 | ||
主要特點(diǎn) | 1、采用高性能進(jìn)口復(fù)合光源,光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (380-1000nm) 2、高精度旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器調(diào)制、PCRSA配置,實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集 3、支持系列配置靈活,可根據(jù)不同應(yīng)用場景支持多功能模塊化定制 4、數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫、多種算法模型庫,涵蓋了目前絕大部分的光電材料 | ||
技術(shù)參數(shù) | 1、自動化程度:手動變角 2、應(yīng)用定位:通用型 3、基本功能:Psi/Delta、N/C/S、R/T等光譜 4、分析光譜380-1000nm(可擴(kuò)至210-1650nm) 5、單次測量時間:0.5-5s 6、重復(fù)性測量精度:0.01nm 7、光斑大?。捍蠊獍?-3mm,微光斑200μm 8、入射角調(diào)節(jié)方式:手動變角 9、入射角范圍:55-75°(5°步進(jìn)),90° 10、找焦方式:手動找焦 11、Mapping行程:不支持 12、支持樣件尺寸:至180mm | ||
可選配件 | 1 | 溫控臺 |
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2 | Mapping擴(kuò)展模塊 |
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3 | 真空泵 |
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4 | 透射吸附組件 |
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