Contracex-100型光學輪廓儀在*佳價格點上為精確和可重復的非接觸式表面計量設(shè)置了一個新的基準。小足跡系統(tǒng)提供不妥協(xié)的2D/3D高分辨率測量功能,在一個流線型封裝,融合了幾十年的布魯克白光干涉測量(WLI)的**。下一代增強包括一個新的5 MP相機和更新階段的更大的縫紉能力,和一個新的測量模式,USI,為精密加工表面,厚膜和摩擦學應用更大的方便和靈活性。您將找不到一個比Contracex-100更有價值的桌面系統(tǒng)。
****的計量
Contracex-100型輪廓儀是40多年來在非接觸式表面計量、表征和成像領(lǐng)域的專有光學**和行業(yè)地位的**。該系統(tǒng)利用三維WLI和二維成像技術(shù),在一次采集中進行多次分析。Contracx-100在所有表面情況下都是穩(wěn)健的,反射率從0.05%到99%不等.
不匹配值與分析
有了數(shù)千個定制的分析和Bruker的簡單而強大的VisionXpress™和VI 64用戶界面,Contracex-100臺式平臺為實驗室和工廠的生產(chǎn)力進行了優(yōu)化。硬件和軟件相結(jié)合,提供流線型的高通量光學性能,超過可比的計量技術(shù)。