英國泰勒霍普森CCI非接觸式光學(xué)輪廓儀
無論對分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI光學(xué)裝置非接觸式光學(xué)輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結(jié)果。 高分辨率相機(jī)與1/10埃垂直分辨率相結(jié)合,無論是測量非常粗糙的表面,還是測量極其光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細(xì)分析。
CCI光學(xué)裝置與光學(xué)研究人員和科學(xué)家的知識(shí)保持與時(shí)俱進(jìn),能滿足光學(xué)領(lǐng)域的嚴(yán)苛測量要求。 CCI光學(xué)裝置將強(qiáng)大的尺寸及粗糙度分析軟件與的工程設(shè)計(jì)融于一體,是一種非常適合用于粗糙度測量的檢驗(yàn)工具。 CCI的薄膜厚度測量功能,進(jìn)一步完善了為光學(xué)工業(yè)而設(shè)計(jì)的出色計(jì)量包裝 。
- 2048 x 2048像素陣列,視場廣,高分辨率
- 全量程0.1埃的分辨率
- 輕松測量反射率為0.3% - 99%的各種表面
- RMS重復(fù)<0.2埃,階躍高度重復(fù)<0.1%
- 多語言版本的64位控制和分析軟件