測(cè)量原理:多散斑-擴(kuò)散波光譜學(xué)(MS-DWS)和 適應(yīng)性散斑干涉圖像處理技術(shù)(A.S.I.I.)
應(yīng)用微流變學(xué)測(cè)量原理MS-DWS技術(shù),檢測(cè)膜形成過程中顆粒的運(yùn)動(dòng)。 借助A.S.I.I數(shù)據(jù)處理技術(shù),記錄下顆粒從非??斓椒浅B倪\(yùn)動(dòng)過程。流 動(dòng)因子對(duì)時(shí)間的曲線反映了顆粒這一動(dòng)態(tài)變化過程。
的A.S.I.I(自適應(yīng)斑點(diǎn)圖像干涉測(cè)量法)處理技術(shù),實(shí)時(shí)顯 示干燥過程中流動(dòng)因子對(duì)時(shí)間的變化,從而得到廣泛的信息:
● 微觀結(jié)構(gòu)的變化(顆粒重排、顆粒變形、固化過程)
● 干燥時(shí)間(保持濕潤(rùn)時(shí)間(Open Time)、 觸干時(shí)間(Touch Time)、干燥時(shí)間 (Dry Time )
● 固化時(shí)間
Rheolaser Coating可以配置多個(gè)檢測(cè)頭,允許同時(shí)進(jìn)行多個(gè)實(shí)驗(yàn)
● 根據(jù)檢測(cè)頭的數(shù)量不同分為:Basic型和Standard型
應(yīng)用微流變學(xué)測(cè)量原理MS-DWS技術(shù),檢測(cè)膜形成過程中顆粒的運(yùn)動(dòng)。 借助A.S.I.I數(shù)據(jù)處理技術(shù),記錄下顆粒從非??斓椒浅B倪\(yùn)動(dòng)過程。流 動(dòng)因子對(duì)時(shí)間的曲線反映了顆粒這一動(dòng)態(tài)變化過程。
的A.S.I.I(自適應(yīng)斑點(diǎn)圖像干涉測(cè)量法)處理技術(shù),實(shí)時(shí)顯 示干燥過程中流動(dòng)因子對(duì)時(shí)間的變化,從而得到廣泛的信息:
● 微觀結(jié)構(gòu)的變化(顆粒重排、顆粒變形、固化過程)
● 干燥時(shí)間(保持濕潤(rùn)時(shí)間(Open Time)、 觸干時(shí)間(Touch Time)、干燥時(shí)間 (Dry Time )
● 固化時(shí)間
Rheolaser Coating可以配置多個(gè)檢測(cè)頭,允許同時(shí)進(jìn)行多個(gè)實(shí)驗(yàn)
● 根據(jù)檢測(cè)頭的數(shù)量不同分為:Basic型和Standard型
● 款商業(yè)化的專門測(cè)量涂層動(dòng)態(tài)干燥過程的儀器
● 款把流變學(xué)理論,用于檢測(cè)涂層動(dòng)態(tài)干燥過程的儀器
● 一款無損檢測(cè)儀器
● 是研究膜形成過程機(jī)理的工具
● 一次檢測(cè)可以得到涂層含水量和附著力的信息